高溫測(cè)試的三個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)，你的測(cè)試可能“漏"在哪里？

測(cè)的是“存儲(chǔ)"還是“工作"？

如果做的是高溫貯存測(cè)試（樣品不通電），只證明了產(chǎn)品在高溫下“放不壞"，不代表它在高溫下“能干活"。

很多死機(jī)問(wèn)題恰恰是在高溫+通電工作的疊加狀態(tài)下出現(xiàn)的——元件自己發(fā)熱，環(huán)境溫度又高，兩者疊加才突破臨界點(diǎn)。

溫度和時(shí)間，是否匹配“夏天"的真實(shí)挑戰(zhàn)？

高溫工作測(cè)試的常見(jiàn)條件是55℃～70℃，持續(xù)48～96小時(shí)。如果測(cè)試溫度低于設(shè)備在密閉空間（如暴曬后的車內(nèi)、無(wú)空調(diào)的機(jī)房）實(shí)際承受的溫度，或者測(cè)試時(shí)間不足以暴露性能漂移，結(jié)果就會(huì)失真。

車規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)可靠性要求更高，例如AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)要求器件通過(guò)130℃/85%RH、168小時(shí)的HAST測(cè)試，遠(yuǎn)高于常規(guī)消費(fèi)電子要求。

有沒(méi)有排查過(guò)熱保護(hù)閾值的問(wèn)題？

有些設(shè)備的過(guò)熱保護(hù)觸發(fā)點(diǎn)設(shè)置得過(guò)低，或散熱設(shè)計(jì)（風(fēng)道、導(dǎo)熱介質(zhì)）在高溫下失效，導(dǎo)致芯片在尚未達(dá)到設(shè)計(jì)極限溫度時(shí)就因局部過(guò)熱而關(guān)機(jī)。高溫測(cè)試不僅要測(cè)“能不能扛住"，還要驗(yàn)證保護(hù)機(jī)制是否合理。

如果查漏補(bǔ)缺，應(yīng)該優(yōu)先補(bǔ)什么？

首先確認(rèn)當(dāng)前高溫測(cè)試是“貯存"還是“工作"狀態(tài)。如果是前者，建議增加高溫工作測(cè)試（即測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)品保持通電運(yùn)行狀態(tài)）。

其次檢查高溫工作測(cè)試的溫度設(shè)定是否覆蓋了“最壞情況"——不僅包括氣象溫度，還要考慮設(shè)備自身發(fā)熱疊加后的內(nèi)部溫度。

最后，如果產(chǎn)品會(huì)在濕熱地區(qū)（如南方夏季）使用，高溫測(cè)試還應(yīng)與濕熱測(cè)試（如85℃/85%RH） 組合進(jìn)行，因?yàn)闈駳鈺?huì)加速電路腐蝕和絕緣劣化，這種“復(fù)合應(yīng)力"往往是單一高溫測(cè)試發(fā)現(xiàn)不了的。