當前位置：北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司>>微型光譜儀>> 顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-A1
產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地北京市
聯(lián)系方式：楊淑君查看聯(lián)系方式
更新時間：2024-09-02 14:38:30瀏覽次數(shù)：536次
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| 產(chǎn)地 | 進口 | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
|---|
MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構(gòu)成。
*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。
應(yīng)用范圍
腫瘤檢測
珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分
地質(zhì)研究
gong安法學：筆跡鑒定、du品檢測等
定制顯微鏡
MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對系統(tǒng)性能的側(cè)重點各不相同，該系統(tǒng)對此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。
系統(tǒng)參數(shù)
型號 | MicroTEQ-A1 | ||
光譜儀配置 | 拉曼 | 拉曼 | 熒光 |
光譜儀 | QEPRO@532 nm | QEPRO@785 nm | QEPRO-FL |
光譜范圍 | 150-4200 cm-1@532 nm | 150-2000 cm-1@785 nm | 300-1050 nm |
分辨率 | ~10 cm-1@5 um狹縫 | ~6 cm-1@5 um狹縫 | 1.5 nm@5 um狹縫 |
探測器 | 背照減薄型面陣CCD | ||
激光器 | 單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器 | ||
功率 | 50 mW | ||
波長 | 532 nm | ||
光束發(fā)散 | 1.3 mrad | ||
顯微光譜測量模塊 | 400-1100 nm | ||
模塊輸出能量 | 25 mW | ||
手動衰減切換 | 50%, 10%, 1%, 0.1% | ||
光斑尺寸 | 10x NA0.25 物鏡下 <=10 um | ||
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