三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為：高溫區(qū)、測(cè)試區(qū)、低溫區(qū)三部分，待測(cè)產(chǎn)品放置于測(cè)試區(qū)中，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度按照程序自動(dòng)進(jìn)入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品有五金端子、塑料、橡膠、電子，電池，手機(jī)，等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，適用于學(xué)校，工廠，，......

試驗(yàn)箱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
Test chamber test standard
GB/T 2423.22-2012 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 ；
IEC 60068-2-14-2009 環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分試驗(yàn) 試驗(yàn)N溫度變化； 
GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法。
       Part 2: test methods. Test N: change in temperature.
IEC 60068-2-14-2009 environmental tests -- part 2-14 tests N temperature variation;
GJB 150.5a-2009 temperature impact test;
GJB 360b-2009 test method for electronic and electrical components.
試驗(yàn)箱性能確認(rèn)符合標(biāo)準(zhǔn)
The test chamber performance is confirmed to meet the standard
GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)；
GB/T5170.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法+溫度試驗(yàn)設(shè)備；
JJF1101-2003環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范
Confirm the performance of environmental test temperature test chamber for electrical and electronic products;
Test method of environmental test equipment for electronic and electrical products + temperature test equipment;
Jjf1101-2003 calibration specification for temperature and humidity of environmental test equipment