Leica DM8000M

簡(jiǎn)介

高產(chǎn)能 8" 檢查及缺陷分析系統(tǒng) - Leica DM8000M徠卡 DM8000 M

    提供了全新的光學(xué)設(shè)計(jì)，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時(shí)也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時(shí)的產(chǎn)量。該機(jī)照明 基于的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機(jī)身上。 低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 LED的超長(zhǎng)使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。

   只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。

為您帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)

視野擴(kuò)大四倍以上                                                                   極限分辨率

宏觀放大功能                                                                              全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎(chǔ)上結(jié)合了傾斜

使您可以比傳統(tǒng)掃描物鏡多看四倍以上的視野。             光設(shè)計(jì)理念，確保您可以從任何角度都得到可見(jiàn)物理光學(xué)的極限分辨率。

非常適合 長(zhǎng)時(shí)間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應(yīng)任何程度的使用者。

內(nèi)置一體化的 LED照明 達(dá)到了的空氣環(huán)流. 長(zhǎng)壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節(jié)省了大量成本。

　　Leica 不僅是在光學(xué)解析有良好的表現(xiàn)，在半導(dǎo)體晶圓與材料檢視應(yīng)用的效能上，更是的*。經(jīng)過(guò)半導(dǎo)體廠與電子廠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，所有參與的科技界工程師，一致給予的評(píng)價(jià)。