Leica DM8000M

簡介

高產(chǎn)能 8" 檢查及缺陷分析系統(tǒng) - Leica DM8000M徠卡 DM8000 M

    提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產(chǎn)量。該機照明 基于的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內(nèi)置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。

   只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。

為您帶來的優(yōu)勢

視野擴大四倍以上                                                                   極限分辨率

宏觀放大功能                                                                              全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結(jié)合了傾斜

使您可以比傳統(tǒng)掃描物鏡多看四倍以上的視野。             光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。

非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。

內(nèi)置一體化的 LED照明 達到了的空氣環(huán)流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節(jié)省了大量成本。

　　Leica 不僅是在光學解析有良好的表現(xiàn)，在半導體晶圓與材料檢視應用的效能上，更是的*。經(jīng)過半導體廠與電子廠的現(xiàn)場測試，所有參與的科技界工程師，一致給予的評價。