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BX51-P偏光顯微鏡

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更新時間:2021-10-06 10:22:20瀏覽次數(shù):533

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產(chǎn)品簡介

BX51-P是利用偏光識別樣品的不同特性的高級偏光系統(tǒng)顯微鏡

詳細介紹

BX51-P是利用偏光識別樣品的不同特性的高級偏光系統(tǒng)顯微鏡。適用于各向同性、各向異性材料的鑒別,廣泛應用于礦物、化工產(chǎn)品,醫(yī)學、植物學等分析。

UIS2物鏡觀察到的鮮明影像       


能夠?qū)崿F(xiàn)最小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產(chǎn)品中選擇所需產(chǎn)品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發(fā)的熒光觀察的通用物鏡,能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。       

*EF值:平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較,EF值越高光學失真越少,表明偏振光特性越好。       

觀察影像實例
石英閃長巖中的斜長石帶狀結(jié)構
石英閃長巖中的斜長石帶狀結(jié)構
液晶MBBA(甲氧基的氨基聯(lián)苯丁基苯胺)
液晶MBBA(甲氧基的氨基聯(lián)苯丁基苯胺)
UPLFLN-P Series
UPLFLN-P系列產(chǎn)品
UPLFLN-P系列產(chǎn)品規(guī)格                                   
產(chǎn)品名稱數(shù)值孔徑                                       
(N.A.)
工作距離                                       
(W.D.)
                                        UPLFLN4XP                                                                           0.13                                                                           17.0mm                                   
                                        UPLFLN10XP                                                                           0.3                                                                           10.0mm                                   
                                        UPLFLN20XP                                                                           0.5                                                                           2.1mm                                   
                                        UPLFLN40XP                                                                           0.75                                                                           0.51mm                                   
                                        UPLFLN100XOP                                                                           1.3                                                                           0.2mm                                   
ACHN-P系列產(chǎn)品
ACHN-P系列產(chǎn)品
ACHN-P系列產(chǎn)品規(guī)格                                   
產(chǎn)品名稱數(shù)值孔徑                                       
(N.A.)
工作距離                                       
(W.D.)
                                        ACHN10xP                                                                           0.25                                                                           6.0mm                                   
                                        ACHN20xP                                                                           0.40                                                                           3.0mm                                   
                                        ACHN40xP                                                                           0.65                                                                           0.45mm                                   
                                        ACHN100xOP                                                                           1.25                                                                           0.13mm                                   


的操作性能和光學性能       


操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機體      

*追求人機工程學的Y形框架,操作更為舒適,提高了觀察效率。極大地降低了長時間觀察的疲勞度。            
視場數(shù)達到了22,與一般視場數(shù)為20的顯微鏡相比,觀察的范圍增寬了21%。此外,照明系統(tǒng)采用了12 V,100W明亮的鹵素燈,能觀察明亮逼真的偏振光影像。       


支持更高效的偏振光觀察的載物臺        

 帶有旋轉(zhuǎn)中心輸出機構的旋轉(zhuǎn)載物臺,樣品可以流暢旋轉(zhuǎn)。此外,每隔45°裝有的鎖定機構,提高了觀察效率。            

旋轉(zhuǎn)載物臺上裝有復式機械載物臺,能夠控制樣品的細微移動。       

旋轉(zhuǎn)載物臺
旋轉(zhuǎn)載物臺
復式機械載物臺
復式機械載物臺

對應高級偏振光觀察的附件       


偏振光性能優(yōu)異的附件       

各種補償板的延遲測量范圍
各種補償板的延遲測量范圍
全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設計,提高了偏振光性能,實現(xiàn)了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。                       
*EF值:平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較,EF值越高光學失真越少,表明偏振光特性越好。                   
                        各種補償板的延遲測量范圍                   
補償板測量范圍主要用途
U-CTB厚型Berek                                           0-11,000nm                   較大的延遲測量(R*>3λ)。(結(jié)晶、高分子、纖維、光彈性失真等)                   
U-CBE Berek                        0-1,640nm                   延遲測量(結(jié)晶、高分子、纖維、生物體組織等)                   
U-CSE Senarmont                        0-546nm                   延遲測量(結(jié)晶、生物體組織等)對比度增強(生物體組織等)                   
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ                   0-55nm                   微小延遲測量(結(jié)晶、生物體組織等)                        
對比度增強(生物體組織等                   
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ                   0-20nm                   
U-CWE2 石英楔子                   500-2,200nm                   延遲的近似測量(結(jié)晶、高分子等)                   

*R表示延遲。           

為提高測量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外)       


鮮明的正像鏡影像和錐光鏡影像       

錐光鏡/正像鏡觀察單元
錐光鏡/正像鏡觀察單元
簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡,并且能夠?qū)瑰F光鏡影像。此外,采用了伯特蘭透鏡,即使是樣本的微小范圍,也能觀察到逼真的錐光鏡影像。                   

使用數(shù)碼照相機可以記錄保存數(shù)碼圖像       

三目觀察筒可以連接數(shù)碼照相機??梢员4婧陀涗洈?shù)碼影像,幫助創(chuàng)建檢查報告??蓮漠嬅尜|(zhì)量、功能、操作性等方面選擇所需的數(shù)碼照相機。奧林巴斯圖像分析軟件是專門為工業(yè)顯微鏡應用程序設計的,擁有直觀的操作菜單和高級軟件例行程序。用戶被使用的圖像分析和管理方案,以滿足特定應用程序的需要。

 

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