SPA6100國內(nèi)半導體參數(shù)分析儀iv兼cv測試儀配置有多種不同規(guī)格的SMU，如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU；用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格，以及不同數(shù)量的搭配。

全“芯"新品！SPA6100半導體參數(shù)分析儀，1200V/30A，一鍵執(zhí)行測試，高性價比！模塊化集成設計，配置多種不同規(guī)格的SMU，可同時進行直流I-V、超快脈沖式I-V、C-V 測試，幫助你實現(xiàn)測試效率與開支的平衡！更多產(chǎn)品詳情上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢

產(chǎn)品特點

30μV-1200V，1pA-30A寬量程測試能力

測量精度高，蕞高可達0.1%

內(nèi)置標準器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便 

自動實時參數(shù)提取、 數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線

供靈活的夾具定制方案，兼容性強

免費提供上位機軟件及SCPI指令集

典型應用：

納米、柔性等材料特性分析；

二極管；

MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；

第三代半導體材料/器件；

有機OFET器件；

LED、OLED、光電器件；

半導體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數(shù)和霍爾效應測量；

太陽能電池；

非易失性存儲設備；

失效分析；