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參考價	面議

產(chǎn)品簡介

溫濕振/溫濕振高度綜合試驗箱廣泛應(yīng)用于重點實驗室和大型第三方檢測測試實驗室

詳細介紹

溫濕振/溫濕振高度綜合試驗箱廣泛應(yīng)用于重點實驗室和大型第三方檢測測試實驗室，涉及航空、航天、兵器、船舶、汽車、智能制造、新能源、通訊、計量、電子、鐵路、電力、醫(yī)療及科研院校等諸多國民經(jīng)濟的重點領(lǐng)域，在溫度濕度振動綜合條件下對測試件溫度應(yīng)力檢測、溫濕度篩選、可靠性測試、性能測試、耐候試驗、高低溫儲存、振動試驗、低氣壓試驗等綜合環(huán)境模擬可靠性

滿足標準：

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10590-2008 低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗方法

GB/T 2423.26-2008 高溫/低氣壓綜合試驗方法

GJB 150.2A -2009 低氣壓高度試驗方法（快速降壓除外）

GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法

GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法

GJB 150.24A-2009 溫度-濕度-振動-高度試驗方法（振動除外）

GJB 360A-2009 電子及電氣元件試驗方法105低氣壓試驗的要求

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1 低溫試驗方法

GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2 高溫試驗方法

GB/T 2423.3-2008/IEC 60068-2-78 恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30 交變濕熱試驗方法

GB/T 2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法

GJB 150.9A-2009 濕熱試驗方法

GJB 150.16A-2009 振動試驗方法

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法

JJF 1270-2010溫度、濕度、振動綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)校準規(guī)范

GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

主要技術(shù)指標：

產(chǎn)品名稱		溫濕振三綜合試驗箱/溫濕振高度四綜合試驗箱
產(chǎn)品型號		MQ-THF500	MQ-THF1000	MQ-THF2000	MQ-THF4000
內(nèi)箱容積	升/L	500	1000	2000	4000
內(nèi)箱尺寸	WDH（cm）	75×75×90	100×100×100	130×130×120	160×180×140
外形尺寸	WDH（cm）	95×240×195	120×260×215	150×350×240	210×450×260
性能指標	溫度范圍	A、-40℃～150℃ B、-70℃～150℃ C、-90℃～150℃
	濕度范圍	A、10%～98%RH B、20%～98%RH C、 30%～98%RH
	氣壓范圍	常壓～0.5kPa
	溫度波動度	≤±0.5℃
	濕度波動度	≤±2%RH
	溫度均勻度	≤2.0℃
	溫度偏差	≤±2.0℃
	濕度偏差	濕度＞75%RH：≤+2,-3%RH；濕度＜75%RH：≤±5%RH
	升溫速率	2、5、10、15、20℃/min
	降溫速率	2、5、10、15、20℃/min
	振動頻率	3～2500HZ；3～3000HZ；5～4500HZ；
	加速度	500m/s²；700 m/s²；1000m/s²；
	位移	25mm；51mm；
	動圈尺寸	φ320mm；φ445mm；φ550mm；
	臺面尺寸	50×50cm； 60×60cm；80×80cm；100×100cm；120×120cm
制冷方式		壓縮機制冷
冷卻方式		F、風(fēng)冷 W、水冷
承壓方式		內(nèi)承壓/外承壓