兩槽式冷熱沖擊箱TSD

    本系列環(huán)境實驗箱可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準確性和*性(可重復)提供*條件。該產品具有簡單的操作性能和可靠的設備性能，便捷操作的計測裝置，結構一體化程度高，科學的空氣流通設計，使室內溫濕度均勻，避免任何死角；完備的保護裝置，避免了任何可能發(fā)生的隱患，保證設備的長期可靠性

兩箱式高低溫沖擊試驗箱參照標準

本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。

GJB 150.3高溫試驗；GJB 150.4 低溫試驗；

GB10588-2006 高溫試驗箱技術條件；

GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件；

GB/T10592高低溫試驗箱技術條件；

QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標準中所要求的試驗

兩槽式冷熱沖擊箱TSD

兩箱式高低溫沖擊試驗箱控制系統(tǒng)

1.設置方式：觸摸，點擊

2.顯示方式：彩色LCD背光觸摸屏中文顯示

3.設定、顯示分辨率:溫度（0.1℃）；時間（1min）

4.圖形顯示：完整顯示設定程序曲線。

5.設置參數(shù)保存時間:充滿電后,數(shù)據(jù)可保存5年。

6.程序數(shù):1～499（Z大499個程序）。