溫度應(yīng)力篩選試驗箱ESS--產(chǎn)品用途

快速溫度變化試驗(溫度循環(huán)應(yīng)力篩ESS )是產(chǎn)品在設(shè)計強度極限下，運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)時，產(chǎn)品 產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)(潛在零件材料 瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵)以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)的考驗時而導(dǎo)致失效，嗾高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù) 有顯著的效果,另外應(yīng)力篩本身是種制程階段的過程,而不是種可靠度試驗,所以應(yīng)力篩選是對產(chǎn)品進行的程序。

溫度應(yīng)力篩選試驗箱ESS--控制系統(tǒng)特點

?制冷過程不加熱控制，節(jié)省能源40%以上

?標(biāo)準(zhǔn)機型可滿足40℃時相對濕度10%RH

?滿足低溫運行1000小時不結(jié)霜技術(shù)應(yīng)用

?多項強勢安全保護措施，故障自診斷提示功能

?自主研發(fā)第5代7’真彩控制系統(tǒng)，成熟穩(wěn)定可靠

?可進行高低溫，快溫變，濕熱試驗，一機三用

?標(biāo)配USB , R-232C接口，隨時下載數(shù)據(jù)及曲線到PC端

?試驗箱的配件庫存長達十年以上

?全新的外觀設(shè)計，同比機型占地面積減少30%

溫度應(yīng)力篩選試驗箱ESS--符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件 　　

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件　　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件　

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件 　　

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗
GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.6-2006/IEC 60068-3-6：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.7-2006/IEC 60068-3-7：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量

GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

溫度應(yīng)力篩選試驗箱ESS--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)（可制作非標(biāo)尺寸）