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溫度循環(huán)TC試驗(yàn)又名高低溫沖擊試驗(yàn)是半導(dǎo)體元器件元器件行業(yè)的測試設(shè)備

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溫度循環(huán) TC試驗(yàn)又名高低溫沖擊試驗(yàn)是半導(dǎo)體元器件元器件行業(yè)的測試設(shè)備。在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，用于考核器件在短期內(nèi)反復(fù)承受溫度變化（循環(huán)流動的空氣）的能力及不同膨脹系數(shù)材料之間的熱匹配性能。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1
GB/T 2423.22-2012 7

主要技術(shù)參數(shù)：

設(shè)計(jì)和技術(shù)參數(shù)(TCT系列）
型號		LS-TCT-401	LS-TCT-402	LS-TCT-403	LS-TCT-501	LS-TCT-502	LS-TCT-503	LS-TCT-601	LS-TCT-602	LS-TCT-603
箱體設(shè)計(jì)
提籃容積（升）		27	64	125	27	64	125	27	64	125
試驗(yàn)箱內(nèi)箱容積尺寸（mm）	寬（W)	300	400	500	300	400	500	300	400	500
	高（H)	300	400	500	300	400	500	300	400	500
	深（T)	300	400	500	300	400	500	300	400	500
試驗(yàn)箱外箱尺寸（mm）	寬（W)	1180	1280	1380	1180	1280	1380	1180	1280	1380
	高（H)	1850	1950	2050	1850	1950	2050	1850	1950	2050
	深（T)	180	190	2000	180	190	2000	180	190	2000
溫度試驗(yàn)參數(shù)
溫度范圍熱箱	℃	+80~200			+80~200			+80~200
溫度范圍冷箱	℃	-10~-60			-20~-70			-30~-80
測試溫度范圍	℃	-40~+150			-55~+150			-65~+150
溫度波動度	℃	±0.5~1.0
溫度均勻度	℃	±0.5~2.0
升溫平均速率1	℃/min	3~5
降溫平均速率2	℃/min	1
熱箱冷箱轉(zhuǎn)換時(shí)間	sec	＜10
恢復(fù)時(shí)間	min	＜15
校準(zhǔn)值熱箱1	℃	125			125			150
校準(zhǔn)值冷箱2	℃	-40			-55			-65
冷卻方式		水冷或風(fēng)冷

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半導(dǎo)體行業(yè)溫度循環(huán)TC

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