芯片老化測(cè)試箱用于對(duì)封裝好的電路進(jìn)行可靠性測(cè)試（Reliability T e s t ） ， 它的主要目的是為了檢出早期失效的器件，稱為Infant Mortality。并進(jìn)行失效機(jī)理分析，以便找出失效原因。

產(chǎn)品特點(diǎn)

針對(duì)MEMORY、LOGIC、ASIC等產(chǎn)品的可靠性測(cè)試需求而設(shè)計(jì); 針對(duì)各大晶圓廠、芯片設(shè)計(jì)公司實(shí)驗(yàn)室少量多樣化，空間小的特殊需求，采用 獨(dú)立的BY BOARD TG設(shè)計(jì)，每個(gè)SLOT都可單獨(dú)使用，以提高效率; 專有的FLASH MEMORY(NAND、NOR、SPI)，DDR MEMORY指令讓程序開發(fā)更加快速高效;

DC POWER 采用高精度、高穩(wěn)定性的可編程直流電源;

DUT POWER 采用三級(jí)供應(yīng)方式，以達(dá)到的穩(wěn)定性和可靠性; 便捷的WINDOWS平臺(tái)、USB通訊、具有*的系統(tǒng)兼容性;

技術(shù)參數(shù)