詳細介紹
Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀
全自動透光率/反射率分析儀

型號:Pla 反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。 Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀-適宜測量范圍:棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能。 操作軟件界面
型號 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型) 探測器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD 檢測范圍 380-1000nm 360-1100nm 波長分辨率 1nm 1nm 信噪比(全信號) 250:1 1000:1 相對檢測誤差 ﹤1%(400-800nm) ﹤0.2%(400-800nm) 重復(fù)定位精度 ﹤0.005° 透射測量角度 0-80°(小樣品0-50°) 反射測量角度 10-80°(可擴展到5°) 樣品尺寸 ﹥Φ5mm 單次測量時間 <1ms S/P光測量 支持 其他 可自定義打印報告格式,開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫
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