ST-20掌上型方塊電阻測試儀

ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

ST-20掌上型方塊電阻測試儀

1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準(zhǔn)確穩(wěn)定
2、低功耗
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
4、 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6、探頭帶抗靜電模塊

ST-20掌上型方塊電阻測試儀