詳細介紹
瑞士Equotip Piccolo 2 筆式里氏硬度計
便攜式硬度檢測儀的*** Equotip 隆重推出使用單一加載釋放機制磚利技術的全新Equotip Piccolo 2 / Bambino 2
監(jiān)測金屬硬度
金屬在轉換為*終產品前要經過不同工藝的處理。每道工藝都會對金屬的機械和化學性質產生影響。例如,鋼的強度由其化學成分和微結構轉變確定。宏觀變量用于控制*終產品質量。硬度是較易監(jiān)測的的一個金屬特征。1975 年,Proceq 發(fā)明了**性的便攜式金屬硬度檢測儀“Equotip"。早已成為業(yè)界標準的里氏原理也由 Proceq 發(fā)明,使測量金屬硬度變得非常簡單。現(xiàn)在,Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 繼續(xù)發(fā)揚了 Proceq 制造上等產品的傳統(tǒng)。
Piccolo 2 和 Bambino 2 的區(qū)別
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 都適用于在現(xiàn)場檢測金屬硬度,且檢測壓痕盡可能小。可靠的設計和大顯示屏允許用戶在
可見性很低的粉塵工作環(huán)境中使用。兩種產品還能夠以所有常用標度顯示金屬硬度。
Piccolo 2 的功能除與 Bambino 2 相同外,還具有下列更多功能:
1) 用戶定義的硬度轉換
2) 具有下列應用的 Piccolink 軟件:
a) 系統(tǒng)化實時監(jiān)測硬度
b) 在連續(xù)生產過程中自動測試
c) 評估和處理測量數(shù)據
d) 遙控 Piccolo 2 設置
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 附帶有 D 型沖擊裝置。此沖擊裝置可與可選的 DL 沖擊裝置互換,對于受限區(qū)域中的測量非常有用。
Equotip 硬度檢測儀的里氏回彈原理
*常用于金屬的便攜式硬度檢測儀基于 Proceq SA 發(fā)明的里氏回彈法。Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 按里氏原理進行操作,其中的硬度值是用在樣品上進行沖擊前后的沖擊體的能量之比計算出來的。此能量指數(shù)(EQUO) 以硬度單位 HL 表示,用沖擊體的沖擊速度和回彈速度(vi、vr)之比計算出來。沖擊體在較硬樣品上的回彈速度比在較軟樣品上要快,從而得出更大的能量指數(shù),
金屬硬度可通過不同的標度顯示:HLD(里氏)、HRC(洛氏)、HB(布氏)、HV(維氏)等。使用 Piccolo 2 /Bambino 2 *且獲得磚利的單一加載釋放機制,可通過任何選定的硬度標度來獲取和顯示硬度測量值。
Equotip Piccolo 2 具有一個額外的功能,允許用戶為特殊合金自定義轉換曲線,還允許用戶將硬度讀數(shù)轉換為抗張強度。
沖擊裝置 DL - 這是 Proceq 一家提供的功能。它允許用戶使用 Piccolo 2 / Bambino 2 快速簡便地互換 D 和 DL 沖擊裝置。
測試塊 - 在參考硬度對象上定期執(zhí)行 3 到 10 次的測試沖擊是很有必要,這可用于驗證Equotip 儀器能否正確操作。根據用戶的硬度要求,可使用各種測試塊。為了更加方便,測試塊還以不同標度指示出參考硬度值。
支撐環(huán) - 里氏回彈檢測儀僅當沖擊體在沖擊過程中距測試表面適當距離時才能正確工作。多種型號的支撐環(huán)允許在各種形狀的目標上進行測試,即平面、凹面或凸起柱面、球形測試表面等。
瑞士Equotip Piccolo 2 筆式里氏硬度計
| 使用 D 型沖擊裝置 | 使用 DL 型沖擊裝置 | |
| 測量范圍 | 150-950 HLD | 250-970 HLDL |
| 儀器尺寸 | 147.5 x 44 x 20 毫米 | 203 x 44 x 20 毫米 |
| 儀器重量 | 142 克 | 152 克 |
| 轉換 | 80-955 HV、81-678 HB、20-70 HRC、38-102 HRB、30-100 HS (** Equotip Piccolo 2:274-2193 N/mm2) | |
| 分辨率 | 1 HLD / HLDL、1 HV、1 HB;0.1 HRC、0.1 HRB、0.1 HS(** Equotip Piccolo 2:1 N/mm2 Rm) | |
| 測量精度 | ± 4 HLD / HLDL(800 HLD / HLDL 時為 0.5%) | |
| *大檢測硬度 | 890 HLD (955 HV, 68 HRC) | |
| 沖擊方向/能量 | 自動補償 / 11 Nmm | |
| 球壓頭 | 碳化鎢(約 1’500 HV),~ 3 毫米 | |
| 外殼 | 防刮硬質鋅合金 | |
| 電池 | 可充電鋰電池,能夠執(zhí)行 2 萬多次沖擊,充電電流 100 mA | |
| 集成存儲器 | 非易失性 RAM,32 kB,可存儲約 2000 個測量值(** Equotip Piccolo 2) | |
| 操作條件 | 溫度:-10 至 +60 °C(14 至 140 °F);濕度:*高 90% | |
| IP 等級 | IP52 | |
附件
| 352 95 021 | Equotip DL 附件工具包 |
| 350 01 015 | Equotip 耦合劑 |
| 測試塊 | |
| 357 11 100 | Equotip 測試塊 D/DC,經 Proceq 校準(<500HLD/<225HV/<220HB) |
| 357 12 100 | Equotip 測試塊 D/DC,經 Proceq 校準(~600HLD/~335HV/~325HB/~35HRC) |
| 357 13 100 | Equotip 測試塊 D/DC,經 Proceq 校準(~775HLD/~630HV/~56HRC) |
| 357 11 120 | Equotip 測試塊 DL,經 Proceq 校準(<710HLDL/<225HV/<220HB) |
| 357 12 120 | Equotip 測試塊 DL,經 Proceq 校準(~780HLDL/~335HV/~325HB/~35HRC) |
| 357 13 120 | Equotip 測試塊 DL,經 Proceq 校準(~890HLDL/~630HV/~56HRC) |
| 357 10 109 | Equotip 測試塊插入式校準 D/DC |
| 357 10 129 | Equotip 測試塊插入式校準 DL |
| 支撐環(huán) | |
| 350 03 000 | Equotip 支撐環(huán)組(12 件裝)適用于 D/DC/C/E/D+15 |
| 350 03 001 | Equotip 支撐環(huán) Z 10-15 |
| 350 03 002 | Equotip 支撐環(huán) Z 14.5-30 |
| 350 03 003 | Equotip 支撐環(huán) Z 25-50 |
| 350 03 004 | Equotip 支撐環(huán) HZ 11-13 |
| 350 03 005 | Equotip 支撐環(huán) HZ 12.5-17 |
| 350 03 006 | Equotip 支撐環(huán) HZ 16.5-30 |
| 350 03 007 | Equotip 支撐環(huán) K 10-15 |
| 350 03 008 | Equotip 支撐環(huán) K 14.5-30 |
| 350 03 009 | Equotip 支撐環(huán) HK 11-13 |
| 350 03 010 | Equotip 支撐環(huán) HK 12.5-17 |
| 350 03 011 | Equotip 支撐環(huán) HK 16.5-30 |
| 350 03 012 | Equotip 支撐環(huán) UN |
保修
標準保修 主機:24 個月
機械和電機零件和附件:6 個月
延長保修 購買 Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 儀器時,*長可為主機購買 36 個月的延長保修。延長保修服務必須在購買時或購買之日起 90 天內購買。
適用標準和法規(guī)
ASTM A 956, ASTM E 140, ASTM A 370, ISO 16859, DIN 50156, GB/T 17394 JB/T 9378, ASME CRTD-91, DGZfP Guideline MC 1, VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1, Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
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