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詳細介紹
MX-IR / BX-IR透視近紅外顯微鏡詳細介紹：
非破壞觀察半導體器件內(nèi)部
隨著不斷發(fā)展的電子設備小型化、超薄化的需求，半導體器件的封裝技術也高速進化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（System in Package）、三維組裝、CSP（Chip Size Package）等用可視觀察無法看到的領域進行無損檢查和分析。
倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析
在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是，如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進行不良狀況分析。對必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也有效。
晶圓級CSP開發(fā)的環(huán)境試驗導致芯片損壞
晶圓級CSP的高溫高濕試驗導致器件的變化，可以用非接觸方式檢查。此外，還能可靠的觀察銅引線部分的融解和腐蝕引起的漏電、樹脂部分的剝離等。
針對不同樣品的顯微鏡產(chǎn)品陣容
MX系列產(chǎn)品（半導體檢查型號）
可以用來觀察150～300 mm晶圓等的大型樣品。只對應反射照明觀察。
BX系列產(chǎn)品（標準型號）
BXFM（嵌入式設備型號）
技術規(guī)格：
將專用物鏡等近紅外線觀察裝置搭載于顯微鏡上，就可以組成紅外線觀察顯微鏡。
有關對應的顯微鏡規(guī)格，請參閱各顯微鏡的具體規(guī)格說明。
LMPlan-IR紅外線觀察用
對應顯微鏡一覽
紅外線反射觀察
> MX61A: 可以綜合控制外圍設備、對應300 mm晶圓的電動型號
> MX61L/ MX61: 可以對應300 mm/ 200 mm 晶圓的電動型號
> MX51: 可以對應150 mm晶圓的手動型號
> BX51M: 從明視場到熒光，對應大范圍觀察的通用型號
紅外線反射透射觀察
> BX61: 操作省力的電動控制型號
> BX51: 從明視場到熒光，對應大范圍觀察的通用型號
非破壞觀察半導體器件內(nèi)部
隨著不斷發(fā)展的電子設備小型化、超薄化的需求，半導體器件的封裝技術也高速進化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（System in Package）、三維組裝、CSP（Chip Size Package）等用可視觀察無法看到的領域進行無損檢查和分析。
倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析
在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是，如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進行不良狀況分析。對必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也有效。
晶圓級CSP開發(fā)的環(huán)境試驗導致芯片損壞
晶圓級CSP的高溫高濕試驗導致器件的變化，可以用非接觸方式檢查。此外，還能可靠的觀察銅引線部分的融解和腐蝕引起的漏電、樹脂部分的剝離等。
 鋁引線部分（內(nèi)面觀察） |  焊錫溢出性評價 |  電極部分（內(nèi)面觀察） |
MX系列產(chǎn)品（半導體檢查型號）
可以用來觀察150～300 mm晶圓等的大型樣品。只對應反射照明觀察。
 半導體／FPD檢查顯微鏡 MX61 |  工業(yè)檢查顯微鏡 MX51 |
 研究級全電動系統(tǒng) 金相顯微鏡 BX61 | 對應反射光觀察和透射光觀察。 |
 小型系統(tǒng)顯微鏡 BXFM |
技術規(guī)格：
將專用物鏡等近紅外線觀察裝置搭載于顯微鏡上，就可以組成紅外線觀察顯微鏡。
有關對應的顯微鏡規(guī)格，請參閱各顯微鏡的具體規(guī)格說明。
LMPlan-IR紅外線觀察用
對應顯微鏡一覽
紅外線反射觀察
> MX61A: 可以綜合控制外圍設備、對應300 mm晶圓的電動型號
> MX61L/ MX61: 可以對應300 mm/ 200 mm 晶圓的電動型號
> MX51: 可以對應150 mm晶圓的手動型號
> BX51M: 從明視場到熒光，對應大范圍觀察的通用型號
紅外線反射透射觀察
> BX61: 操作省力的電動控制型號
> BX51: 從明視場到熒光，對應大范圍觀察的通用型號
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