詳細介紹
膜厚測量橢偏儀
型號: Smart SE

廠家:HORIBA Jobin Yvon
產(chǎn)地:法國
技術指標:
光譜范圍:450-1000nm
· 多種微光斑自動選擇,精度<1nm
· 光斑可視技術,可觀測任何樣品表面
· CCD探測器
· 自動樣品臺尺寸:200mmX200mm;XYZ方向
· 自動調(diào)節(jié); Z軸高度>35mm
主要功能及應用范圍:測試各種透明薄膜膜厚。
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南京盈波光電科技有限公司
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| 參考價 | 面議 |
更新時間:2021-07-28 12:38:35瀏覽次數(shù):348
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