產(chǎn)品簡(jiǎn)介 ：創(chuàng)譜儀器CPRS-PD光電探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，具有測(cè)試快速準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、可靠性高的特點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)了200-250nm范圍內(nèi)光譜響應(yīng)度、量子效率、歸一化探測(cè)率、信號(hào)電壓、噪聲電壓、響應(yīng)時(shí)間等參數(shù)隨波長(zhǎng)、頻率、外加偏壓的變化曲線的全自動(dòng)測(cè)試。

>>>>  產(chǎn)品介紹

  光電探測(cè)器是利用具有光電效應(yīng)的材料制成的將光輻射信號(hào)轉(zhuǎn)變成電信號(hào)的傳感器。大部分光電探測(cè)器在一定的光譜區(qū)域內(nèi)具有較強(qiáng)的光譜選擇性，所以光電探測(cè)器的光譜響應(yīng)度在不同波長(zhǎng)是不同的。因此光譜響應(yīng)度是表征光電探測(cè)器性能的一個(gè)重要參數(shù)指標(biāo)。另外，對(duì)于光電材料的科研工作，通過(guò)測(cè)量并分析光電材料的光譜響應(yīng)度數(shù)據(jù)，可以進(jìn)一步得出材料本身的各項(xiàng)特性（如摻雜濃度、晶格缺陷、吸收系數(shù)、少子擴(kuò)散長(zhǎng)度等）對(duì)于光電響應(yīng)能力和量子效率的影響，從而對(duì)于優(yōu)選材料、改進(jìn)工藝具有指導(dǎo)性意義；
  創(chuàng)譜儀器CPRA100光電探測(cè)器光譜響應(yīng)系統(tǒng)是我司根據(jù)客戶應(yīng)用自主研發(fā)得一款模塊化組合式得光電系統(tǒng)，系統(tǒng)有光源，單色儀，探針臺(tái)，數(shù)據(jù)源表組成，測(cè)試光電探測(cè)器在不同得單色光照射下得光電相應(yīng)曲線；

>>>>  產(chǎn)品特點(diǎn)以及參數(shù)

◆光譜范圍：200-2500nm（可根據(jù)實(shí)際需要選擇）

◆光電源電流漂移：< 0.04%/h

◆波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.2nm

◆光譜分辨率：± 0.1nm

◆光譜帶寬：0.2-10nm 可調(diào)

◆光斑：1-38mm可調(diào)，各點(diǎn)不均勻性<1%

◆偏壓源：電壓：200uV-505V；電流：20fA-200mA

◆系統(tǒng)噪聲：< 2mV

◆系統(tǒng)重復(fù)性：< 2%

>>>>  測(cè)試系統(tǒng)集成軟件功能
1.掃描模式
選定波長(zhǎng)時(shí)間掃描，選定波長(zhǎng)I-V掃描
2.波長(zhǎng)掃描
掃描波長(zhǎng)范圍，步進(jìn)，測(cè)試時(shí)所加偏壓，積分時(shí)間，停留時(shí)間，每個(gè)波長(zhǎng)位置源表采點(diǎn)次數(shù)，掃描次數(shù)
3.時(shí)間掃描
波長(zhǎng)位置，掃描時(shí)間，源表采點(diǎn)次數(shù)，測(cè)試時(shí)所加偏壓
4.I-V掃描
波長(zhǎng)位置，電壓范圍，步進(jìn)電壓，掃描時(shí)間，源表采點(diǎn)次數(shù)
5.具備隨時(shí)開(kāi)始暫停繼續(xù)停止掃描
6.可以設(shè)定測(cè)試時(shí)所加偏壓
7.可以保存數(shù)據(jù)和圖片
8.可以通過(guò)軟件對(duì)源表進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，所加偏壓，測(cè)試速度，電流范圍設(shè)定