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詳細(xì)介紹
XQC系列測(cè)檢顯微鏡
測(cè)檢顯微鏡是一種應(yīng)用廣泛的光學(xué)儀器。它的主要優(yōu)點(diǎn)是工作距離長，鑒別率、成像清晰，結(jié)構(gòu)輕巧美觀。因此，它是電子、儀表、輕紡等行業(yè)檢查和測(cè)量細(xì)小疵病及表面狀況的重要工具，它也可用于其它工門。
| Model | XQC-Ⅰ | XQC-Ⅱ | XQC-Ⅲ | XQC-Ⅳ |
| 總放大倍數(shù) | 60X | 80X | 40X | 100X |
| 物方視場(chǎng) | Ø2.3 | Ø1.5 | Ø4.4 | Ø1.4 |
| 測(cè)量范圍 | Ø1.6 | Ø1.2 | Ø3.2 | Ø1.2 |
| 最小測(cè)量值 | 0.02 | 0.01 | 0.04 | 0.01 |
| 工作距離 | 28 | 28 | 52 | 28 |
| 系統(tǒng)升降范圍 | 40 | 40 | 40 | 40 |
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