產(chǎn)品首頁(yè)|產(chǎn)品動(dòng)態(tài)|技術(shù)交流|實(shí)時(shí)報(bào)價(jià)|推薦產(chǎn)品|最新產(chǎn)品
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摘要:激光粒度儀
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摘要:NanoLab3D三維納米粒度儀采用調(diào)制三維互相關(guān)技術(shù)（EP2365313A1），能抑制多重散射效應(yīng)帶來(lái)的負(fù)面影響，使得高濃體系或...
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摘要:產(chǎn)品特點(diǎn)設(shè)備特性：1、采用高速ARM9單片機(jī)作為處理機(jī)，可同時(shí)運(yùn)行四線(xiàn)程固化程序，保證設(shè)備流暢運(yùn)行
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摘要:產(chǎn)品特點(diǎn)1、采用60度、90度、120度可調(diào)三種鉆孔裝置可以在不同構(gòu)建的平面、曲面、角焊縫、對(duì)接焊縫、拐角等處方便靈活的進(jìn)行鉆孔2...
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摘要:Winner99E顯微顆粒圖像分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：Winner99E是一款顆粒圖像分析設(shè)備，它采用圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計(jì)算機(jī)圖像...
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摘要:產(chǎn)品介紹產(chǎn)品介紹Nicomp380DLS采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍0.3nm-6μm
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摘要:產(chǎn)品介紹產(chǎn)品介紹：Nicomp380ZLS粒度檢測(cè)分析儀復(fù)合采用Gaussian單峰算法和擁有技術(shù)的NiComp無(wú)約束自由擬合多峰...
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摘要:產(chǎn)品介紹美國(guó)PSSNicomp380ZLSOL在線(xiàn)激光粒度測(cè)定儀產(chǎn)品型號(hào)：Nicomp380ZLSOnline儀器簡(jiǎn)介：Nicom...
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摘要:Bettersize2000E激光粒度儀
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摘要:Bettersize2600E激光粒度儀
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摘要:一、鋼制天平臺(tái)1.柜體：柜體采用1.0m厚鍍鋅鋼板折邊焊接而成，采用純環(huán)氧樹(shù)脂靜電噴涂高溫固化，具有較高耐蝕性能
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摘要:商品詳情簡(jiǎn)便、高效、功能性滿(mǎn)足您基本需求的天平：52g秤量，0.1mg可讀性，背光液晶顯示屏，內(nèi)部調(diào)整，金屬機(jī)架設(shè)計(jì)持久耐用實(shí)驗(yàn)室...
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摘要:商品詳情輕松、高效和實(shí)用滿(mǎn)足您的基本需求：秤量：120g，可讀性：1mg，背光LCD，內(nèi)部校準(zhǔn)，金屬底座設(shè)計(jì)持久耐用實(shí)驗(yàn)室天平持久...
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摘要:商品詳情ME半微量電子天平具有瑞士品質(zhì)的NewClassicME半微量天平，設(shè)計(jì)堅(jiān)固、簡(jiǎn)單可靠，操作高效的性能賦予天平非同凡響的價(jià)...
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摘要:Partica發(fā)展成就業(yè)界激光粒度儀產(chǎn)品，以精確可靠著稱(chēng)的HORIBAParticaLA-950V2已全新升級(jí)為L(zhǎng)A-960
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摘要:高分辨率二維和三維X射線(xiàn)系統(tǒng)FF70CL適用于全自動(dòng)分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線(xiàn)系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件...
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摘要:產(chǎn)品介紹：名稱(chēng)：超聲波掃描顯微鏡型號(hào)：V-400E產(chǎn)地：德國(guó)應(yīng)用：晶圓面處分層缺陷
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摘要:產(chǎn)品簡(jiǎn)介：名稱(chēng)：航空發(fā)動(dòng)機(jī)盤(pán)/環(huán)/軸類(lèi)C-掃描檢測(cè)系統(tǒng)品牌/產(chǎn)地：美國(guó)型號(hào)：定制應(yīng)用：針對(duì)航空發(fā)動(dòng)機(jī)專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的一套自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)
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摘要:產(chǎn)品簡(jiǎn)介：名稱(chēng)：水浸式超聲C掃描系統(tǒng)型號(hào)：UPK-T10，UPK-T24，UPK-T36，UPK-T48，UPK-T60，UPK-...
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摘要:Tablet-UT掌上超聲系統(tǒng)
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摘要:適用于全自動(dòng)檢查IC包裝缺陷的高分辨率三維X射線(xiàn)檢測(cè)系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中，需借助...
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摘要:用于多樣化應(yīng)用的高精度工業(yè)CT系統(tǒng)FF85CT計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)配有兩套射線(xiàn)管，能夠覆蓋絕大部分的材料類(lèi)型和部件尺寸，并獲得的...
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摘要:適用于中小型部件檢測(cè)的高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)Y.FF35CT計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)應(yīng)用范圍廣，設(shè)計(jì)用于獲取高精度檢測(cè)結(jié)果
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摘要:適用于小型部件檢測(cè)的高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)Y.FF20CT計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于實(shí)現(xiàn)高精度的三維檢測(cè)結(jié)果
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摘要:為封裝和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用打造的緊湊型X射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)Y.CougarEVO被設(shè)計(jì)用于為SMT，半導(dǎo)體和實(shí)驗(yàn)室封裝應(yīng)用領(lǐng)域提供同級(jí)別產(chǎn)品中的...
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