產(chǎn)品功能和應(yīng)用Applications

█測(cè)試平面光學(xué)元件（如棱鏡、濾光片、光柵、平行平板、鍍膜、半導(dǎo)體器件、太陽(yáng)能電池片等）的吸收、透射/反射光譜。

█ 測(cè)試球面光學(xué)元件（凹面鏡、凸面等）的吸收、透射/反射光譜。

█測(cè)試各種漫反射樣品或粉末的散射吸收光譜

█ 測(cè)試各種材料（半導(dǎo)體材料、薄膜材料、溶液、玻璃、晶體、布料、汽車(chē)貼膜、眼鏡等）的吸收、透射/反射光譜。

█ 測(cè)試各種農(nóng)產(chǎn)品（水果、稻谷、小麥）的吸收、散射光譜。

█測(cè)試各種光與物質(zhì)作用時(shí)，通過(guò)光信號(hào)不同波長(zhǎng)的吸收判斷物質(zhì)特性的領(lǐng)域

主要規(guī)格及特色Features&Benefits

█ 光譜范圍：0.2um~28um(光譜范圍可選，常用范圍：350nm-900nm，200nm-1100nm，350nm-2500nm，200nm-2500nm，1-5um，8-14um,2-16um等)

█波長(zhǎng)分辯率：0.03nm~10nm （由所選波長(zhǎng)范圍確定）

█ 測(cè)試系統(tǒng)高集成度，全自動(dòng)化的測(cè)量

█光源采用德國(guó)OSRAM紫外、可見(jiàn)、近紅外燈泡，進(jìn)口中遠(yuǎn)紅外SiC或SiN發(fā)光模塊

█ 光信號(hào)探測(cè)采用美國(guó)進(jìn)口高靈敏度紫外、可見(jiàn)、紅外探測(cè)器，并且可選擇配套TEC制冷或液氮制冷，大大降低探測(cè)器的暗噪聲水平

█針對(duì)特別弱的紅外信號(hào)，信號(hào)處理部分可選配美國(guó)進(jìn)口的鎖相放大器和光學(xué)斬波器

█兩種專(zhuān)用系統(tǒng)可選，分別針對(duì)平面光學(xué)元件和球面光學(xué)元件光譜分析測(cè)試

█系統(tǒng)可擴(kuò)展升級(jí)測(cè)量平面光學(xué)元件不同入射角的反射和透射光譜

█ 專(zhuān)業(yè)優(yōu)化設(shè)計(jì)的系統(tǒng)光路，雜散光小，通光效率高

█ 超大多功能樣品室，便于操作，可選擇液體、固體樣品架；并配備透射專(zhuān)用比色皿

█可選積分球附件，專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試各種漫反射樣品

█軟件自動(dòng)化控制

█系統(tǒng)擴(kuò)展性好，方便客戶(hù)購(gòu)買(mǎi)基本配置后進(jìn)行系統(tǒng)升級(jí)和功能擴(kuò)展

產(chǎn)品參數(shù)Specifications