儀器名稱

場發(fā)射透射電子顯微鏡

儀器型號

Tecnai G2 F20

生產(chǎn)廠家

美國FEI公司

儀器簡介

        Tecnai G2 F20是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的200 kV工具。它以其將各種透射電鏡技術(包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等)方便靈活地有機組合, 形成*的分析功能, 而在同類型儀器中。任務導向型用戶界面和自動采集數(shù)據(jù)功能, 使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結(jié)果的壓力中解放出來, 使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2的“一體化”概念允許在不同的操作模式和數(shù)據(jù)采集技術之間快速切換, 切換過程中系統(tǒng)自動調(diào)回所有相關的操作設置。 

技術參數(shù)

    加速電壓：200 kV                                    很大放大倍數(shù)：105萬倍

 點分辨率：0.24 nm                                   線分辨率：0.14 nm

     STEM (HAADF)分辨率：0.19 nm              電子束能量色散：<0.7 eV

 很大束流：>100 nA                                   1 nm束斑很大束流：>0.5 nA

 樣品很大傾斜角：±40°                              能量分辨率：~130 eV (Mn K線)

 EDAX能譜儀 (EDS)：5B~92U

設備功能 

  主要用于無機材料微結(jié)構與微區(qū)組成的分析和研究，儀器的功能包括：

  1、電子衍射：選區(qū)衍射、微束衍射、會聚束衍射

  2、成像：衍襯像（明、暗場像）、高分辨像 (HREM)、掃描透射像（明場像)

  3、微區(qū)成分：EELS和EDS能譜的點、線和面分析

  4、微區(qū)化學：EELS的元素價態(tài)、化學鍵、配位結(jié)構和電子結(jié)構分析

應用領域

材料范圍：除磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機和生物材料

表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價態(tài)和化學鍵、晶體結(jié)構、相組成、結(jié)構缺陷、晶界結(jié)構和組成等

檢測案例一

（形貌）

檢測案例二

（高分辨）

檢測案例三

(Mapping)

送樣要求

建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測要求需詳細填寫。樣品可提供20張左右圖片：即篩選出三個比較好的區(qū)域，每個區(qū)域提供3-4張不同放大倍數(shù)滿足測試要求的圖片，對于找不到符合測試要求的區(qū)域的樣品，我們將會多拍一些區(qū)域以證明樣品的真實情況！寄送樣品質(zhì)量大20 mg。