X熒光貴金屬檢測(cè)儀

      符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2013對(duì)儀器分辨率的要求，本產(chǎn)品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)之上研發(fā)的一款新型測(cè)試儀，采用新一代探測(cè)器及多道技術(shù)，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，1秒出結(jié)果，準(zhǔn)確分析貴金屬含量。同時(shí)，具備二維移動(dòng)平臺(tái)及高清工業(yè)攝像頭，實(shí)現(xiàn)樣品精確定位。（可對(duì)99.99%黃金進(jìn)行有效分析）。

性能特點(diǎn)

快，1秒鐘出結(jié)果

采用行業(yè)的極速探測(cè)器——（F-SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢(shì)：F-SDD的探測(cè)面積大（面積達(dá)25mm ）、探測(cè)面積越大，單位時(shí)間內(nèi)接受到的信號(hào)越多；且分辨率越低，分辨效果越好；帶來(lái)超高的分辨效果及測(cè)試精度

采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢(shì)：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率超過(guò)300KCPS

采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：使貴金屬的激發(fā)效率更高

光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：樣品更換無(wú)需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度

精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)

單點(diǎn)測(cè)試、多點(diǎn)測(cè)試、網(wǎng)格測(cè)試模式
2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，單點(diǎn)測(cè)試、多點(diǎn)測(cè)試、網(wǎng)格測(cè)試模式

自帶高純金測(cè)試曲線
可高效區(qū)分99.9%及99.99%黃金純度

超小樣品檢測(cè)——最小可測(cè)到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器最小可達(dá)0.2毫米，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測(cè)

可配備貴金屬有害元素測(cè)試軟件
可測(cè)量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設(shè)計(jì)
更快捷：多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪

應(yīng)用領(lǐng)域
質(zhì)檢中心
金銀珠寶首飾店貴金屬冶煉廠
首飾加工廠
分析測(cè)試中心
典當(dāng)行貴金屬回收