T2008濕法全量程激光粒度儀|大量程粒度分析儀

T2008濕法全量程激光粒度儀|大量程粒度分析儀

T2008濕法全量程激光粒度儀

一、產(chǎn)品簡介
T2008是一款測試范圍覆蓋毫米、微米、亞微米、納米全量程的智能全自動(dòng)激光粒度儀。采用了雙光束多頻譜探測系統(tǒng)和超微顆粒測試新技術(shù)，極大的提高了儀器測試的精度和性能。代表了國內(nèi)該領(lǐng)域的*水平。
二、適用范圍
T2008全量程濕法激光粒度儀，廣泛應(yīng)用于具有高要求的水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉體行業(yè)。
三、主要性能特點(diǎn)
全新的測試原理：該款儀器在采用經(jīng)典Mie氏散射原理、會(huì)聚光傅立葉變換以及無約束自由擬合數(shù)據(jù)處理技術(shù)的基礎(chǔ)上，柔和了頻譜放大技術(shù)，從而在有限的空間內(nèi)拓寬了測試范圍；
操作和校準(zhǔn)全自動(dòng)化：使用過程中，只要針對(duì)所測樣品的特性設(shè)置好測試條件后，分散、測試、沖洗等一系列操作過程便可自動(dòng)完成，并得出準(zhǔn)確、可靠的測試結(jié)果。另外，利用三維對(duì)中系統(tǒng)調(diào)節(jié)光電探測器，在避免人工調(diào)試所帶來的繁瑣的同時(shí)，對(duì)整個(gè)光路系統(tǒng)可隨時(shí)校準(zhǔn)，保證其準(zhǔn)確對(duì)中，從而對(duì)測試結(jié)果的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性提供了有力的保障；
有效的分散循環(huán)系統(tǒng)：在配有常規(guī)的超聲和攪拌分散裝置外，還針對(duì)寬分布樣品和比重較大的顆粒，專門配備了大流量循環(huán)泵，以防止因大顆粒丟失而導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確的現(xiàn)象。因而，該儀器在不同的粉體行業(yè)更具有廣泛適用性；
的測試標(biāo)準(zhǔn)：采用多種微米、亞微米及納米級(jí)國家粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，對(duì)儀器進(jìn)行全量程校準(zhǔn)標(biāo)定，使其在其整個(gè)測量范圍之內(nèi)得到真實(shí)、準(zhǔn)確的測試結(jié)果。
四、T2008 激光粒度分析儀技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號(hào)		T2008A	T2008D
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)		ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013
測試范圍		0.01-2000μm	0.01-1200μm
探測器通道數(shù)		127	127
準(zhǔn)確性誤差		<1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
重復(fù)性誤差		<1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
激光器參數(shù)		主激光源：高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>3.0mW 輔助激光源：半導(dǎo)體激光器，λ= 650nm；p>2mW
分散方法	超聲	頻率：f=40KHz, 功率：p=50W
	攪拌	轉(zhuǎn)速：0-3000rpm轉(zhuǎn)速可調(diào)
	循環(huán)	額定流量：30L/min 額定功率：70W
	樣品池	容量：1000mL
操作模式		軟件操作 / 全自動(dòng)操作模式可切換
自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)		全自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)
測試速度		<2min/次
體積		660mm*320mm*400mm
重量		65Kg

五、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.采用全內(nèi)置分散系統(tǒng)：使用大功率循環(huán)泵，對(duì)管路進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)，使整體控制協(xié)調(diào)性達(dá)到水平，有效的防止了大顆粒的二次沉淀。
2.采用精密四項(xiàng)混合式步進(jìn)電機(jī)組成光路自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)，微動(dòng)精度達(dá)到微米級(jí)別，使儀器光路始終處于好的狀態(tài)。
3.無約束自由擬合技術(shù)：無約束自由擬合技術(shù)，不受任何函數(shù)限制，可真實(shí)反映顆粒的分布狀態(tài)。
4.光路設(shè)計(jì)：采用會(huì)聚光傅立葉變換技術(shù)，使散射光不受透鏡孔徑限制；采用雙譜面光路設(shè)計(jì)，有效擴(kuò)大測量范圍至2000微米；雙激光正交光路使用半導(dǎo)體輔助激光器測量側(cè)向散射45度至135度，將測量范圍進(jìn)一步擴(kuò)展。