天津快速溫變試驗箱批量生產(chǎn)型

在設(shè)計強度極限下，運用溫度加速技巧（在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)時，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮）改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程。

設(shè)備滿足以下標準

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗

天津快速溫變試驗箱批量生產(chǎn)型

 它比標準高低溫試驗箱的升降溫速度要快很多，具體的速度可以根據(jù)客戶要求定制，比如平均每分鐘5度/10度或者有線性溫度要求.

溫度范圍：A:0～150、B:-20～150℃、C:-40～150℃、D-60～150℃、E:-70～150℃

濕度范圍：20～98％RH

溫度波動范圍：±0.3℃（-70～+100℃）±0.5℃（+100.1～+150℃）±2.5﹪rh

溫度均勻性：  TEE-150PF、225PF、408PF、600PF

            1、±1.0℃（-70～+100℃）

               ±1.5℃（+100.1～+150℃）

            TEE-800PF、1000PF

            2、±1.5℃（-70～+100℃）

               ±2.0℃（100～+150℃）  

升溫時間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

          線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）

降溫時間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

          線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃