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公司簡介

 / ABOUT US

廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國家*產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測方案,2014年被認定為*。公司擁有*的研發(fā)、銷售團隊,擁有*的創(chuàng)新能力,2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號,2016年成功認定為廣州市研發(fā)機構(gòu),2016年順利通過ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認證。
標旗在“科技創(chuàng)新,真誠服務(wù)”的企業(yè)核心價值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開發(fā)、軟件開發(fā)、硬件開發(fā)、光路設(shè)計及電路設(shè)計為一體的研發(fā)體系,標旗團隊基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標旗已擁有一系列具有核心競爭力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測儀、透過率檢測儀、珠寶檢測儀、近紅外光譜檢測儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測厚儀、微量紫外分光光度計、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢顯著,具有高效、迅速、準確的特點,將“中國創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項產(chǎn)品的開發(fā)中,實現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進步、市場需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級改造,實現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動力,將中國創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中。

同時,標旗也是許多科技裝備企業(yè)在國內(nèi)的*的代理商和經(jīng)銷商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀。

標旗秉承專業(yè)、真誠、貼心的服務(wù)宗旨,針對客戶的需求,量身定制光譜檢測應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實際問題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標旗的成長離不開客戶的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線上和線下交流平臺,向客戶學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶。

科技的發(fā)展日新月異,標旗緊跟科技進步與時代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測道路上不斷前行,臻于至善。

查看詳細

工商信息

Business information
法定代表人
宋
宋光均
經(jīng)營狀態(tài) 開業(yè) 天眼評分

評分7332

成立日期
注冊資本 1000萬人民幣 人員規(guī)模 小于50人
實繳資本 1000萬人民幣 工商注冊號 440106000539368 組織機構(gòu)代碼 77330467-1
統(tǒng)一社會信用代碼 914401017733046714 納稅人識別號 914401017733046714 營業(yè)期限
企業(yè)類型 股份有限公司(非上市、自然人投資或控股) 行業(yè) 儀器儀表制造業(yè) 核準日期
參保人數(shù) 25 登記機關(guān) 廣州市市場監(jiān)督管理局
曾用名 廣州標旗電子科技有限公司; 英文別稱
注冊地址 廣州市黃埔區(qū)彩頻路7號701-1房
經(jīng)營范圍 頻譜監(jiān)測技術(shù)的研究、開發(fā);光電子器件及其他電子器件制造;光學(xué)儀器制造;環(huán)境監(jiān)測專用儀器儀表制造;實驗分析儀器制造;藥物檢測儀器制造;電子測量儀器制造;通用和專用儀器儀表的元件、器件制造;軟件開發(fā);軟件服務(wù);珠寶玉石檢測服務(wù);軟件零售;儀器儀表修理;電氣機械設(shè)備銷售;安全技術(shù)防范產(chǎn)品零售;通用機械設(shè)備銷售;照相器材零售;計算機零售;電氣設(shè)備零售;儀器儀表批發(fā);新材料技術(shù)咨詢、交流服務(wù);貨物進出口(專營專控商品除外);技術(shù)進出口;房屋租賃;
? 數(shù)據(jù)來源:以上內(nèi)容依據(jù)公開工商登記信息整理,本頁已與公示系統(tǒng)核對一致。源數(shù)據(jù)來自于天眼查

業(yè)務(wù)范圍 · 產(chǎn)品領(lǐng)域

Business Scope · Product Fields

廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司業(yè)務(wù)范圍包含以下產(chǎn)品領(lǐng)域:

股東信息

Shareholder information
序號 股東(發(fā)起人) 持股比例 認繳出資額 認繳出資日期
1
宋
宋光均
90% 900萬元 2018-03-26
2
廣
廣州市振豪化工科技有限公司
10% 100萬元 2018-03-26

專利信息

Patent Information
序號 申請日 專利名稱 專利類型 申請?zhí)?/th> 公開(公布)號 公開(公告)日
1 2023-05-11 用于連續(xù)真空鍍膜的在線全波長檢測系統(tǒng)及方法 發(fā)明專利 CN202310527571.X CN116558783A 2023-08-08
2 2022-12-22 三乙酸甘油酯在線測量方法、裝置、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì) 發(fā)明專利 CN202211660725.4 CN115855858A 2023-03-28
3 2022-06-16 一種用于濾光片鍍膜面檢測方法、裝置及應(yīng)用 發(fā)明專利 CN202210682534.1 CN114942226A 2022-08-26
4 2021-06-03 一種寬光譜范圍高截止濾光片的快速檢測方法 發(fā)明專利 CN202110617658.7 CN114720389A 2022-07-08
5 2020-08-10 一種減小寬光譜透過率測量誤差的方法 發(fā)明專利 CN202010793817.4 CN111829971A 2020-10-27
6 2018-08-15 一種快速篩選仿鉆的方法 發(fā)明專利 CN201810930251.8 CN108956576A 2018-12-07
7 2017-11-21 一種鉆石發(fā)光成像檢測方法 發(fā)明專利 CN201711162022.8 CN108195802A 2020-09-15
8 2016-05-06 一種批量鉆石快速篩查方法 發(fā)明專利 CN201680082581.5 CN109313134A 2022-01-25
9 2016-04-28 一種光致發(fā)光鉆石檢測方法及裝置 發(fā)明專利 CN201610280268.4 CN105784648A 2016-07-20
10 2015-12-27 一種批量鉆石快速篩查方法 發(fā)明專利 CN201511009698.4 CN105548111A 2018-12-04
11 2015-09-30 一種鉆石批量檢測的方法及裝置 發(fā)明專利 CN201510646074.7 CN105136705A 2015-12-09
12 2015-03-19 一種面陣亮度快速檢測系統(tǒng)及其控制方法 發(fā)明專利 CN201510120410.4 CN104715704A 2017-03-01
13 2015-01-28 液體吸光度測試裝置及吸光度測試方法 發(fā)明專利 CN201510044068.4 CN104596961A 2015-05-06
14 2014-12-17 液相色譜陣列式紫外可見檢測器重疊信號的分離方法 發(fā)明專利 CN201410788727.0 CN104730183A 2016-05-18
15 2014-12-15 透過率測試裝置及透過率測試方法 發(fā)明專利 CN201410778709.4 CN104458661A 2015-03-25
16 2014-01-07 一種基于一階導(dǎo)數(shù)尋峰和樣條擬合的光譜基線校正方法 發(fā)明專利 CN201410006439.5 CN103759827A 2016-04-06
17 2013-01-07 基于光譜的Ia型鉆石顏色快速分級方法 發(fā)明專利 CN201310004949.4 CN103090973A 2015-01-14
18 2012-11-06 一種用于寶石檢測的反射光譜測量取樣系統(tǒng)及方法 發(fā)明專利 CN201210439044.5 CN102967604A 2014-11-05
19 2011-12-08 光學(xué)透鏡中心厚度測量系統(tǒng)及方法 發(fā)明專利 CN201110405930.1 CN102435146A 2012-05-02
20 2010-05-26 一種用于珠寶或?qū)毷瘷z測的反射測量光譜取樣方法 發(fā)明專利 CN201010189681.2 CN101858858A 2010-10-13

公司地址

CompanyAddress
廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司地址為廣州市蘿崗區(qū)廣州科學(xué)城彩頻路7號C座701

廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司

地址:廣州市蘿崗區(qū)廣州科學(xué)城彩頻路7號C座701

聯(lián)系人:兼職

資質(zhì)證書

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證書圖片 名稱 發(fā)證機構(gòu) 生效日期 截止日期  

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