比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀 新品詳情上市時(shí)間：2012年12月創(chuàng)新點(diǎn):1.液氮面控制：采用液氮面綜合控制方法以及軟件補(bǔ)償，消除了液氮面的影響

比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀

新品詳情
上市時(shí)間：2012年12月
創(chuàng)新點(diǎn):1.液氮面控制：采用液氮面綜合控制方法以及軟件補(bǔ)償，消除了液氮面的影響；
2.低碳環(huán)保：的凈化裝置，消除預(yù)處理產(chǎn)生的雜質(zhì)，并去除真空泵排出的對(duì)人體有害的氣體，環(huán)保性強(qiáng)，分析精度高，走在了業(yè)內(nèi)前列；
3.真密度測(cè)試：具有真密度測(cè)試功能，技術(shù)成熟，測(cè)試速度快、效率高，重復(fù)性、精確度達(dá)到國(guó)內(nèi)外專業(yè)真密度儀的測(cè)試效果；（創(chuàng)新）
4.自控電路：引入了的自動(dòng)控制電路與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，采用以太網(wǎng)接口，大大提高了自動(dòng)控制的可靠性，抗震動(dòng)、抗干擾能力，平均故障周期達(dá)25年以上，并可實(shí)現(xiàn)多臺(tái)、遠(yuǎn)程控制；
詳細(xì)信息
比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀
精微高博是比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀的廠商,精微高博比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀一并榮獲中國(guó)測(cè)試證書(shū),及CE認(rèn)證并且還有的產(chǎn)品是通過(guò)企業(yè)
精微高博比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀具有兩個(gè)獨(dú)立分析站，兩個(gè)樣品同時(shí)測(cè)試，效率提高一倍，控制和測(cè)試精度達(dá)水平

比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀功能
比表面測(cè)定：    BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，Langmuir比表面，外表面測(cè)定；
BJH孔徑分布測(cè)定：    總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
微孔常規(guī)分析：    微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等）
真密度測(cè)定

比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)
比表面積測(cè)試儀原理方法：  低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
比表面積測(cè)試儀吸附氣體：  高純氮?dú)?，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
比表面積測(cè)試儀極限真空：  4 - 6.7×10-2Pa （3- 5×10-4   Torr）
比表面積測(cè)試儀氮?dú)夥謮海?nbsp; 4×10-5 – 0.995
比表面積測(cè)試儀控制精度：  測(cè)試壓力點(diǎn)控制最小間隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr）
比表面積測(cè)試儀測(cè)試范圍：  比表面  ≥ 0.01 M2/g，無(wú)規(guī)定上限
                           孔徑  0.35 - 400 nm
比表面積測(cè)試儀測(cè)試精度：  ≤±2%
比表面積測(cè)試儀測(cè)試效率：  雙工作站，測(cè)試效率提高一倍，多點(diǎn)BET比表面測(cè)定，每樣平均15min
                          孔徑分析兩個(gè)樣品同時(shí)測(cè)試，效率也提高一倍
比表面積測(cè)試儀預(yù) 處 理：  兩個(gè)樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
比表面積測(cè)試儀專用軟件：  BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等

比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀特色
    ◎  比表面儀具有雙工作站，測(cè)試效率提高一倍，多點(diǎn)BET比表面測(cè)定，每樣平均15min
    ◎  比表面儀具有國(guó)內(nèi)通過(guò)技術(shù)鑒定的產(chǎn)品，控制和測(cè)試精度達(dá)到水平；
    ◎  比表面儀具有的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，超微粉樣品也不會(huì)被抽飛；
    ◎  比表面儀具有獨(dú)特的多途徑液氮面控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮；
    ◎  比表面儀具有的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)；
    ◎  比表面儀具有專用軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過(guò)程；
    ◎  比表面儀具有實(shí)驗(yàn)全程自動(dòng)化、智能化控制，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可以無(wú)人職守。

比表面積測(cè)試儀，微孔孔徑分布測(cè)試儀,孔隙率測(cè)定儀應(yīng)用領(lǐng)域:吸附劑(如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料補(bǔ)強(qiáng)劑(如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等);電池材料(如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅汞材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導(dǎo)電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質(zhì),負(fù)極活性物質(zhì),鋅粉等);金屬氧化物(如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等);磁性粉末材料(如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等);納米金屬材料(如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等);環(huán)保行業(yè)(如顏填料,柱填料,無(wú)機(jī)顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等);無(wú)機(jī)粉體材料(如氧化鈦,鈦白粉,等);納米材料(如納米粉體材料,納米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,儲(chǔ)能材料,催化劑(硅藻土),凈化劑,助濾劑,發(fā)光稀土粉末材料,粉體材料,粉末材料,超細(xì)纖維,多孔織物,復(fù)合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測(cè)分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.