美國 D&S AE1 RD1 半球發(fā)射率測量儀美國 D&S AE1 RD1 半球發(fā)射率測量儀

設備基礎規(guī)格

• 測量指標：半球發(fā)射率，模擬 65℃（150℉）下總半球發(fā)射率

• 重復性：±0.01 發(fā)射度單位

• 預熱時間：約 30 分鐘

• 單次測量時長：一分半鐘

• 輸出特性：電壓輸出與發(fā)射率近似線性

• 配套組件：AE1 發(fā)射率探頭 + RD1 數(shù)字電壓表

• 標準依據(jù)：ASTM C1371、ISO 相關規(guī)范

• 可選配件：小面積樣品適配器、非標曲面樣品定制適配器

核心產品特性

 D&S AE1 RD1 半球發(fā)射率測量儀是專門用于材料半球發(fā)射率檢測的精密儀器，整機由 AE1 發(fā)射率傳感探頭與 RD1 數(shù)字縮放電壓表組成，檢測流程簡單易上手。儀器檢測器采用電加熱結構，檢測過程無需對樣品進行升溫處理，也不需要額外采集樣品溫度，簡化試驗步驟，減少溫度帶來的操作誤差。設備測量重復性可達 ±0.01 發(fā)射度單位，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，滿足材料研發(fā)與質檢的精度要求。儀器開機預熱約 30 分鐘后，每 90 秒即可完成一次樣品讀數(shù)，檢測效率高，適合批量樣品測試。設備支持選配多種適配器，既可檢測小面積試樣，也可定制適配器用于不規(guī)則、非平面樣品檢測，適配更多類型試件。電壓輸出信號和發(fā)射率近似線性關系，讀數(shù)直觀清晰，配套 RD1 數(shù)字電壓表，數(shù)值讀取方便。相較于同類型進口發(fā)射率檢測設備，該款儀器具備良好的性價比，同時配套線上技術資料庫，便于操作人員查閱參考，符合 ASTM C1371 標準試驗要求，檢測結果具備合規(guī)性，可用于材料性能報告出具。設備結構緊湊，安裝調試簡單，維護工作量低，長期穩(wěn)定運行，滿足實驗室常態(tài)化測試需求。

適用場景 

廣泛應用于保溫材料、涂層、薄膜、金屬表面、航天航空材料、建筑節(jié)能材料等領域，用于材料紅外半球發(fā)射率的實驗室檢測與來料質檢，適用于材料研發(fā)實驗室、第三方檢測機構、高?？蒲性核?、保溫涂料生產企業(yè)，依據(jù) ASTM C1371 標準完成發(fā)射率性能評定。