美國 DS SSR-ER 太陽光譜反射儀美國 DS SSR-ER 太陽光譜反射儀

設備基礎規(guī)格

• 測量對象：漫反射材料、鏡面反射材料

• 大樣品厚度：6.4 毫米

• 顯示精度：0.001 單位

• 測量重復性：0.003 單位

• 探測器配置：4 個實探測器加 2 個虛擬探測器，覆蓋紫外藍光紅光紅外波段

• 測量偏差：和分光光度法計算值偏差小于 0.002

• 標準差：約 0.005

• 校準存儲：可保存 5 組額外校準標準數(shù)據(jù)

• 功能模式：采樣保持，連續(xù)采樣，自動手動串口數(shù)據(jù)輸出

• 配套標準：自帶 3 套校準標準，附帶 4 套色卡標準

  核心產品特性

  SSR-ER 太陽光譜反射儀專為太陽能相關材料光學性能檢測開發(fā)，搭載多通道探測結構，四個實體探測器覆蓋紫外、藍光、紅光、紅外波段，搭配兩組虛擬探測器優(yōu)化光譜匹配效果，測量結果可以匹配多種與正射太陽輻照度模型。儀器支持漫反射與鏡面反射兩類試樣檢測，能夠完成厚達 6.4 毫米的第二表面反射器樣品測試。儀器讀數(shù)精度可達 0.001 單位，測量重復性穩(wěn)定在 0.003 單位，同分光光度法計算結果偏差小于 0.002，數(shù)據(jù)標準差約 0.005。設備操作簡單，一鍵即可完成校準，內存可以保存五組額外校準參數(shù)，方便切換不同工作標準。儀器帶有讀數(shù)保持功能，可凍結當前測量數(shù)值，適合手持測頭作業(yè)場景，單次測量可以展示不同輻照度模型下的反射率和吸收率。固件內置多種工作模式，支持連續(xù)采樣，可手動或者自動向串口輸出測量數(shù)據(jù)。儀器配套多組色卡標準，用于長期跟蹤儀器色溫校準狀態(tài)，保障設備長期使用的數(shù)據(jù)一致性，整體結構穩(wěn)定，適合實驗室長期開展材料光學性能測試。

  適用場景

  太陽能吸收涂層反射率檢測，薄膜材料光學吸收率測試，鏡面與漫反射材料光譜檢測，建筑節(jié)能材料太陽反射性能評估，光伏配套材料光學參數(shù)測定，航天保溫涂層反射率檢測，科研實驗室光學樣品檢測。