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內容聲明：
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產品簡介
集輻射度、輻射分布、電性能測量及溫控功能與一體
GO-SPEX200 紫外空間輻射分布測試系統(tǒng)詳細信息
典型應用場景
GO-SPEX200 紫外空間輻射分布測試系統(tǒng)采用獨特的暗箱設計，集輻射度、輻射分布、電性能測量及溫控功能與一體，專門用于紫外專封裝LED（包括集成封裝）的總輻射通量、空間輻射強度分布（配光性能）、輻射強度數(shù)據(jù)、空間角度特性的準確測量，符合相關標準要求。
主要特點
高精度二維轉臺
轉臺角度精度0.2°，可實現(xiàn)LED的精確定位以及其空間角度特性的準確測量。
精確控溫
內置溫控平臺，精確控溫，為LED設計應用提供指導性數(shù)據(jù)。
集成空間輻射度分布測量系統(tǒng)
可實現(xiàn)不同波長紫外LED光源的相對光譜功率分布、峰值波長、輻射強度分布、總輻射通量的高精度測量。
高穩(wěn)定度的恒流供電單元
確保LED穩(wěn)定供電，提高測量精度。
主要技術指標
| 型 號 | GO-SPEX200 |
| 轉臺機械部分指標 | |
| 測量距離 | 100mm，316mm，1000mm |
| 被測LED自動旋轉范圍 | ±90°(γ軸)，±180°(C軸) |
| 測量數(shù)據(jù)可以以IES等國際標準文件導出，可用于二次光學設計 | |
| 溫控參數(shù) | |
| 溫度控制范圍 | 5℃～120℃ |
| 溫度顯示分辨率 | 0.01℃ |
| 溫控夾具控溫方式 | TEC自動控溫，精度±0.5℃ |
| 溫控平臺尺寸 | φ50mm |
| 光譜及輻射度參數(shù) | |
| 波長范圍 | 200nm-450nm |
| 波長準確度 | 0.1nm |
| 半峰帶寬 | 1nm |
| 光譜輻照度測量范圍 | 光譜輻照度測量范圍：0-20000uw/cm2 （不同波段測量范圍不同，特殊范圍可定制） |
| 輻照度準確度 | 標準級（專用標準燈校準后） |
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