制藥網(wǎng)>產(chǎn)品庫(kù)>儀器儀表>其它儀器儀表>其它儀器儀表>>TY826G26G高頻雷達(dá)物位計(jì)

TY826G26G高頻雷達(dá)物位計(jì)

參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱安徽通儀測(cè)控技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地六安市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2026/7/27 9:22:11
訪問(wèn)次數(shù)52

產(chǎn)品標(biāo)簽:

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看電話同類產(chǎn)品

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是制藥網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

安徽通儀測(cè)控技術(shù)有限公司始終以“誠(chéng)信有為”的理念，是一家集研發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體的企業(yè)，自2002年6月成立以來(lái)，一直致力于在傳感器、測(cè)控領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┮徽臼浇鉀Q方案服務(wù)。引進(jìn)并結(jié)合市場(chǎng)需求，在工業(yè)過(guò)程控制領(lǐng)域形成了多系列產(chǎn)品生產(chǎn)線，主營(yíng)產(chǎn)品：射頻電容液位計(jì)、壓力變送器、差壓變送器、超聲波液位計(jì)、磁翻板液位計(jì)、雷達(dá)液位計(jì)等，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于冶金、石油化工、電力、環(huán)保、管道閥門、重型機(jī)械、車聯(lián)網(wǎng)等行業(yè)。在產(chǎn)品化設(shè)計(jì)方面組建了研發(fā)團(tuán)隊(duì)，者在行業(yè)內(nèi)有超過(guò)20年的工作經(jīng)驗(yàn)，在制造方面擁有2000多平方米的制造基地。通儀測(cè)控堅(jiān)守初心、讓測(cè)控更簡(jiǎn)單，讓生活更安逸的使命，針對(duì)傳感器、測(cè)控專業(yè)性強(qiáng)的特點(diǎn)，提出并實(shí)施“產(chǎn)品生命周期內(nèi)全程呵護(hù)”計(jì)劃，讓用戶：化繁為簡(jiǎn)，您只要提出需求，技術(shù)團(tuán)隊(duì)就會(huì)為您提供量身定制的解決方案；化難為易，產(chǎn)品設(shè)計(jì)、選型、調(diào)試由我們完成，使您輕松工作；化憂為安，產(chǎn)品做工精細(xì)、安全可靠、性能定期跟蹤，讓您無(wú)后顧之憂。通儀測(cè)控遵循精準(zhǔn)可靠、至簡(jiǎn)方便、專注創(chuàng)新、追求的質(zhì)量方針，嚴(yán)格按照ISO9001質(zhì)量管理體系組織產(chǎn)品管理過(guò)程，始終將“為客戶創(chuàng)造價(jià)值”放在，為客戶提供高品質(zhì)、高可靠度的產(chǎn)品。通儀測(cè)控秉承坦誠(chéng)信賴的理念，依托高性能的產(chǎn)品、高品質(zhì)的服務(wù)，必將成為您強(qiáng)有力的合作伙伴，在實(shí)現(xiàn)大家共贏發(fā)展的同時(shí)，為加速中國(guó)傳感器行業(yè)的發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

測(cè)控設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

簡(jiǎn)介：26G高頻雷達(dá)式物位測(cè)量?jī)x表，測(cè)量距離可達(dá)70米。天線被進(jìn)一步優(yōu)化處理，新型快速的微處理器可以進(jìn)行更高速率的信號(hào)分析處理，使得儀表可以用于固體料倉(cāng)等一

TY826G26G高頻雷達(dá)物位計(jì) 產(chǎn)品信息

簡(jiǎn)介：

26G高頻雷達(dá)式物位測(cè)量?jī)x表，測(cè)量距離可達(dá)70米。天線被進(jìn)一步優(yōu)化處理，新型快速的微處理器可以進(jìn)行更高速率的信號(hào)分析處理，使得儀表可以用于固體料倉(cāng)等一些復(fù)雜的測(cè)量條件。原理：雷達(dá)物位天線發(fā)射較窄的微波脈沖，經(jīng)天線向下傳輸。微波接觸到被測(cè)介質(zhì)表面后被反射回來(lái)，反射回的雷達(dá)波經(jīng)過(guò)數(shù)字轉(zhuǎn)換成回波圖形，通過(guò)對(duì)回波圖形進(jìn)行分析，來(lái)確定從介質(zhì)表面到儀表基準(zhǔn)點(diǎn)之間的距離，間隔與天線到被測(cè)介質(zhì)表面的距離成正比。