相關(guān)分類
功能特征
ICT-33C集成電路測試儀:
可測1300種器件.
可對器件好壞判別,型號判別,老化測試,
器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,
EPROM、EEPROM器件讀出寫入.
功 能 參 數(shù)
主要功能
器件好壞判別:當不知被測器件的好壞時,儀器可判斷其好壞。
器件型號判別:當不知被測器件型號時,儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
器件老化測試:當懷疑被測器件的穩(wěn)定性時,儀器可對其進行連續(xù)老化測試。
器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號。
內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:ICT?/FONT>33C可從鍵盤對自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進行隨機修改。
EPROM、EEPROM器件讀入:ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進行讀入并保存。
EPROM、EEPROM器件寫入:ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中,并自動校驗。
可 測 器 件(1300多種)
CMOS40系列:103種。
CMOSMC140系列:103種。
CMOS45系列:60種。
CMOSMC145系列:60種。
光耦合器系列:133種。
TTL74/54系列:714種。
TTL75/55系列:82種。
數(shù)碼管系列:
0.5吋共陽[001];共陰[002];0.3吋共陽[003];共陰[004];0.7吋共陽[005];共陰[006]。
常用RAM系列:
6 60256 628128
EEPROM系列:
2816 28256 28040 29101
EPROM系列:
2716 27128 27256 27512
微機外圍電路系列:
Z8OCTC(8O2)
常用單片機系列:
其他系列:
1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506






















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