設備名稱：高低溫低氣壓試驗箱

型號：ASTD1000-70W

標稱內(nèi)容積：可定制

溫度范圍：-70℃～+150℃

濕度范圍：設定：0%~99%；工作：25%~98%RH

壓力范圍：常壓～0.5kPa

降溫時間：+20℃→ -65℃，0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化（常壓、空載）

升溫時間：-70℃→150℃，0.5℃/min≤0.5℃/min 升溫速率線性變化（常壓、空載）

降壓時間：常壓 → 1kPa：≤17min；降壓變化率：≤5.8KPa/min（空載、箱內(nèi)干燥時）

溫度波動度：≤±0.5℃（常壓、空載）

溫度偏差：≤±2℃（常壓、空載）

溫度均勻度：≤±1℃（常壓、空載）

濕度偏差（常壓）：≤ ±3.0%RH（＞75%RH）；≤ ±5.0%RH（≤ 75%RH）

風速：≤1.7m/s

壓力偏差：±2kPa（40kPa～常壓），±5% （2kPa～40kPa），±0.1kPa（1kPa～2kPa）

電源容量：0 kVA（供參考）

制冷機組冷卻方式：水冷

流量：15 T / h

供水壓力：0.32 MPa～0.45MPa。

水溫：≤ 30℃（不結冰）

進水管徑：機組上備DN40(1.5”)外螺紋接頭1對

地漏：制冷機組附近（2米以內(nèi)）備有排水地漏

※1：不包括外形凸出部分（如引線孔蓋、腳墊等）；
※2：做濕度試驗僅在常壓下進行；

※3：循環(huán)冷卻水由使用方提供；如有特殊條款，請以合同為準；冬季需保證循環(huán)冷卻水不結冰，如因水結冰導致管路損壞的不在質(zhì)保范圍內(nèi)；

測試方法：

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法， 溫度試驗設備

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法，濕熱試驗設備

GB/T5170. 10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法，高低溫低氣壓試驗設備

滿足試驗標準：

GB/T2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GB/T2423. 21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法

GB/T2423.25-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-AM：低溫-低氣壓綜合試驗

GB/T2423.26-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-BM：高溫-低氣壓綜合試驗