磁控濺射鍍膜的真空室內(nèi)用于檢測銀層鍍制的專用定制設(shè)備。
注:此產(chǎn)品必須配備Filmonitor6000分析基礎(chǔ)部分。
銀層是低輻射鍍膜玻璃最關(guān)鍵的功能膜層,其膜層的品質(zhì)狀況決定了銀膜層的紅外反射性能(輻射率),也就是最終產(chǎn)品的隔熱性能。銀膜層的鍍制不僅影響產(chǎn)品的節(jié)能品質(zhì),同時貴金屬銀靶材的用量也關(guān)系到最終產(chǎn)品的制造成本。面電阻測量設(shè)備安裝于真空室內(nèi),用于磁控濺射鍍膜中銀層的鍍膜監(jiān)控,一般安裝于銀層鍍膜后的位置。如三銀低輻射鍍膜可安裝三個面電阻探頭,鍍膜后可以依據(jù)面電阻值得變化情況,間接對于銀層的鍍膜密度、膜層厚度以及均勻性進行監(jiān)控。通過面電阻和光學(xué)檢測的結(jié)合應(yīng)用,可以精確控制銀膜層的鍍制,從而保證最終低輻射鍍膜玻璃的品質(zhì),節(jié)約生產(chǎn)成本。
測量對象
- Low-E鍍膜玻璃(尤其表面不導(dǎo)電的Low-E玻璃)
- TCO光伏玻璃、ITO玻璃、觸摸屏玻璃、LED發(fā)光玻璃
- 透明導(dǎo)電薄膜材料
- 人工合成金屬片及導(dǎo)電紙
- 其他導(dǎo)電和半導(dǎo)體材料
儀器功能
- 網(wǎng)格式快速自動測量玻璃、薄膜等鍍膜產(chǎn)品的面電阻,并計算出面電阻平均值、各通道平均值、各通道縱向差值及橫向差值
- 實時顯示每一片被測產(chǎn)品面電阻各通道分布、各通道縱向差值及橫向差值,并繪出相應(yīng)測量結(jié)果的歷史趨勢曲線
- 豐富的品質(zhì)分析和報警閾值設(shè)定功能,可根據(jù)總平均值、橫向差值、縱向差值互相結(jié)合的方法進行品質(zhì)評判
- 自動存儲并管理測量結(jié)果,可以進行數(shù)據(jù)庫查詢操作,數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出給EXCEL等軟件進行進一步處理
- 根據(jù)生產(chǎn)線實際的生產(chǎn)情況,自動舍棄無被測物的測量通道數(shù)據(jù)
- 軟件可設(shè)置多個不同等級的用戶,分別對應(yīng)不同的操作權(quán)限
- 打印測量數(shù)據(jù),打印歷史趨勢數(shù)據(jù)及曲線
技術(shù)參數(shù)
技術(shù)指標
技術(shù)指標
1.測量對象:Low-E鍍膜玻璃(尤其表面不導(dǎo)電的Low-E玻璃)TCO光伏玻璃、ITO玻璃、觸摸屏玻璃、LED發(fā)光玻璃透明導(dǎo)電薄膜材料、人工合成金屬片及導(dǎo)電紙其他導(dǎo)電和半導(dǎo)體材料;
2.測量樣式:固定點測量;
3.面電阻范圍:0.5-20Ω/□;
4.探頭尺寸:105x75x57mm;
5.玻璃厚度范圍:2~19mm / 2~27mm;
6.探頭面積:ApproxΦ120mm;
7.探頭間隔:30mm/40mm


















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