本系統(tǒng)安裝于真空卷繞鍍膜機內(nèi)，相當于安裝在生產(chǎn)線內(nèi)的全自動分光光度計，用于膜層或鍍膜成品的透反射光譜性能監(jiān)測，配置靈活，可選擇多種方式測量，采用橫向多點或縱向不同位置進行透反射光譜測量，配置參考光路，穩(wěn)定性

本系統(tǒng)安裝于真空卷繞鍍膜機內(nèi)，相當于安裝在生產(chǎn)線內(nèi)的全自動分光光度計，用于膜層或鍍膜成品的透反射光譜性能監(jiān)測，配置靈活，可選擇多種方式測量，采用橫向多點或縱向不同位置進行透反射光譜測量，配置參考光路，穩(wěn)定性。便于工藝人員監(jiān)測鍍膜情況，提早調(diào)整工藝參數(shù)，節(jié)省成本。

測量對象

• 薄膜材料

儀器特點

• 快速實時光譜測量，監(jiān)控靶室內(nèi)膜層變化；
• 具有特殊設(shè)計的參考光路，長時間運行無漂移；
• 可以選擇測量基材、靶室內(nèi)過程及成品測量；
• 自主開發(fā)軟件系統(tǒng)，自行設(shè)定變化趨勢報警區(qū)間。

儀器功能

• 光譜透射比、反射比 、顏色參數(shù)  Yxy、L*、a*、b*、色差ΔE

技術(shù)參數(shù)

項目	參數(shù)
測量幾何條件	8°/8°
光譜范圍	380～1000nm
波長間隔	1nm
探頭間隙	3～23mm
波長準確性	優(yōu)于0.3nm
波長重復(fù)性	優(yōu)于0.1nm
測量速度	每點每次測量速度≤500ms，每點測量間隔時間不少于1秒
短時間穩(wěn)定性	同一玻璃同一點經(jīng)30次連續(xù)測量，L、a、b*的波動＜0.1RMS
長時間漂移	重啟儀器或置換光源后，測量同一片玻璃同一點，L、a、b*測值波動＜0.1RMS