武漢恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家現(xiàn)貨結(jié)構(gòu)組成:
箱體:(外殼材料+保溫材料層+內(nèi)壁材料+大門+觀察窗+照明燈+測(cè)試引線孔+冷凝出水孔+溢流孔+排水孔+樣品架+移動(dòng)腳輪)
空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng):(空氣調(diào)節(jié)方式+加濕方式+加熱方式+空氣循環(huán)裝置+空氣冷卻方式+除濕方式)
加溫/供水系統(tǒng):(加濕系統(tǒng)+補(bǔ)水方式+加濕供水方式+水位控制方式+保護(hù)措施)
制冷系統(tǒng):(制冷壓縮機(jī)+制冷系統(tǒng)組成+工作介質(zhì))
溫度控制系統(tǒng):(溫度測(cè)量元件+加熱系統(tǒng)組成+控制元件)
安全保護(hù)裝置:(工作室+制冷系統(tǒng)+電源系統(tǒng)+加濕系統(tǒng)+加熱系統(tǒng)+其他)
武漢恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家現(xiàn)貨的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.1-2008 (電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法)
2、GB/T2423.2-2008 (電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法)
3、GB/T2423.3-2006 (電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法)
4、GB/T2423.4-2008 (電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法)
5、GB/T 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
6、GB/T 10586-2006 《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
7、GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
8、GB/T 5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》
恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一種可同時(shí)精確控制溫度和濕度的環(huán)境模擬測(cè)試設(shè)備,能夠在密閉空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高溫、低溫、恒溫、濕熱、高低溫循環(huán)、濕熱循環(huán)等多種工況,用于檢測(cè)產(chǎn)品在不同溫濕度環(huán)境下的性能穩(wěn)定性、可靠性及耐候性。

























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