美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀由于它使用簡單，重量輕，電池供電等特點，使低成本的實時納米粒徑測量成為可能。

美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀 產(chǎn)品簡介
TSI 3910型NanoScan SMPS打開納米顆粒粒徑常規(guī)測量的大門。這一革命性的粒徑譜儀將TSI公司的SMPS™粒徑譜儀集成在約一個籃球大小的便攜箱內(nèi)。容易使用，重量輕，電池供電等優(yōu)點使NanoScan SMPS讓研究人員多點采集納米顆粒粒徑分布數(shù)據(jù)成為可能。由TSI核心技術(shù)中衍生而來，NanoScan SMPS是一個創(chuàng)新的，低成本的實時納米粒徑測量的有效解決方案。

美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀 產(chǎn)品參數(shù)
測量模式：掃描 一 粒度分布
單顆粒 一 單一粒徑顆粒濃度監(jiān)測
粒徑范圍 ：10至420納米
粒徑通道 ：13
測量時間 ：60秒(45秒上掃．1 5秒回掃)，
粒度分布：1秒，單一粒徑技術(shù)模式
粒子濃度： <1,000，000個/cm3
流量： 0.8±5%，進口：0.25±5%．樣品
冷凝液 ： 分析純（99.5%或更高）：異丙醇
注液系統(tǒng) ：溶液機芯（≤6小時運作）：可選外置瓶
零點計數(shù) ： ≤0.01個，
數(shù)據(jù)存儲選項：3—8天，內(nèi)置存儲器，可選USB存儲驅(qū)動器
顯示： 彩色觸摸屏
通信： USB
預(yù)熱時間：<15分鐘
真空源：內(nèi)置
尺寸（長寬高）：45厘米×23厘米x 39厘米