供應(yīng) Agilent 4287A 射頻測(cè)試儀 LCR, 1MHz～3GHz，以100KHz分檔

歐陽(yáng)R:13537；；229325

1MHz～3GHz，以100KHz分檔

·阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

·在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性

·基本精度為1%

·高速測(cè)量9ms

Agilent4287A射頻測(cè)試儀

　　Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精 ，可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精 測(cè)量。

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠

　　4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非?？?。此外，在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。

系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單

　　測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件點(diǎn)測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。

便于使用

　　8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過(guò)程更為方便且無(wú)差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和 的過(guò)程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測(cè)量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無(wú)需制作 夾具。

技術(shù)指標(biāo)

（ 的技術(shù)指標(biāo)參見(jiàn)數(shù)據(jù)資料表）

測(cè)量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時(shí)顯示4種測(cè)量參數(shù)）。

測(cè)試頻率：1MHz～3GHz

頻率分辨力：100KHz

測(cè)試信號(hào)：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz)

　　　　 I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)

電平監(jiān)視功能：電壓，電流

基本的Z精度：±1.0%

測(cè)量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)

測(cè)量時(shí)間：每點(diǎn)9ms（高速）

Rdc測(cè)量：可用于觸點(diǎn)檢查

校準(zhǔn)：開(kāi)路/短路/負(fù)載/低損耗電容量

補(bǔ)償：開(kāi)路/短路,電長(zhǎng)度

大容量存儲(chǔ)功能：30MB固態(tài)大容量存儲(chǔ)或2GB硬盤(pán)（選擇選件）

接口：GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自動(dòng)選擇)，處理器接口

顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器

一般指標(biāo)

電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax

工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對(duì)濕度20%～80%

尺寸：234mm高×425寬×445mm深（主機(jī)）

重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機(jī)/測(cè)試頭）

主要技術(shù)資料

4287A射頻LCR測(cè)試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E

4287A技術(shù)指標(biāo)：p/n 5968-5758E

LCR測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購(gòu)指南，p/n 5952-1430E