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產品簡介
| 飛行時間二次離子質譜 |
| 型號:TOF-SIMS 參考價格:面議 產地:英國 |
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許多產品和生產過程的質量水平都與產品表面有關。然而表面是相對獨立的,它的組成可能由于某些特殊元素在表面的聚集、表面改性、等離子表面處理、離子注入或者偶然的污染、附加的防護性、裝飾性薄膜等原因而與基體組成有極大的區(qū)別。無論什么原因,了解表面的組成是非常重要的,并且由此發(fā)展出許多表面分析技術:從的視覺檢驗到的顯微鏡和微分析手段。其中從20世紀初發(fā)展起來的二次離子質譜技術便是一種的分析技術,它作為一種的,不可取代的表面分析技術成為表面分析領域的利器。 | ||
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