SSR-ER太陽光譜反射率儀提供準確的材料漫反射和鏡面反射測量，材料樣品最小厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比精確到0.001，重復性達到0.003。

SSR-ER太陽光譜反射率儀

SSR-ER太陽光譜反射率儀提供準確的材料漫反射和鏡面反射測量，材料樣品最小厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比精確到0.001，重復性達到0.003。
采用鎢絲提供漫反射光源，測量4個濾光探測器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外、藍光、紅光和IR光譜范圍。2個額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。SSR
漫反射和鏡面反射標準體隨機提供，標準體通過美國National Bureau of Standards Materials 標定，儀器經(jīng)過標準體定標后即可開始測量。
默認操作模式下，儀器每完成一個測量循環(huán)的時間為8秒鐘，鎢燈亮6秒的同時并記錄檢測器偏移值，燈亮兩秒鐘后6個探測器進行反射率測量并存儲，計算太陽反射比并顯示在LCD上，然后關(guān)閉光源。通過鍵盤可切換6個探測器的反射比或吸收比顯示。

應(yīng)用領(lǐng)域：
航空領(lǐng)域：熱控制涂層
控制領(lǐng)域：鍍膜、涂層
太陽能領(lǐng)域：吸收涂層、反射涂層、鏡面和反射鏡

技術(shù)參數(shù)：
定制測量頭：標配測量頭用來測量平面樣品材料，可定制測量頭用來測量曲面材料樣品，如13mm直徑圓柱面。
手柄：便于測量使用
12V便攜供電套裝：可連續(xù)測量5個小時的12V電池、充電器、運輸箱
分辨率：LCD顯示反射比、吸收比和透射比精確至0.001
重復性：±0.003
準確性：±0.002
漂移：5分鐘預(yù)熱，漂移小于每小時±1%或者讀數(shù)+0.003
溫度：電子組件操作溫度60℃，測量頭50℃
濕度：80%
標準體：提供漫反射和鏡面反射標準體，經(jīng)過NBS定標
測量端口：1英寸直徑，最小樣品直徑1.1英寸，
光源：插拔式可換鎢絲燈
供電：100-240VAC通用電源
線纜：標配長度1.5m，可選長度10m
重量：測量頭0.9kg，電子模塊1.8kg，透射率附件4.5kg
標準：符合美國ASTM C1549-04標準和ASTM E1980-01標準
透射率測量附件：SSR-T透射率測量附件可以和SSR-R反射測量頭兼容進行樣品太陽輻射透射率測量，透射率測量角度從法線方向至60°可調(diào)，采用漫反射光源 照明并測量。
SSR-T和SSR-R安裝示意圖如下：

訂貨指南：
SSR-ER太陽光譜反射率儀：包括電子模塊SSR-E ，反射率測量頭SSR-R，2個白瓷體，1個鏡面標準體，黑體，6’信號電纜，鹵素光源，光譜性能標準，通用電源，電源線和運輸箱
SSR-ER-12V太陽光譜反射率儀：包括電子模塊SSR-E ，具有手柄的反射率測量頭SSR-ER，可實現(xiàn)5個小時連續(xù)測量的12v電池和充電器，2個白瓷體，1個鏡面標準體，黑體，6’信號電纜，鹵素光源，光譜性能標準，通用電源，電源線和運輸箱

可選項：
SSR-T 透射率測量附件