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LeCroy Eclipse X34 MIPI M-PHY協(xié)議分析儀是一款磚為移動產(chǎn)業(yè)設(shè)計的髙性能協(xié)議設(shè)備，支持MIPI M-PHY標(biāo)準(zhǔn)下的多通道、高速率通信測試，廣泛應(yīng)用于移動設(shè)備芯片、存儲接口（如    UFS、M-PCIe）等領(lǐng)域的研發(fā)與驗(yàn)證。

該分析儀硬件支持GEAR1、GEAR2、GEAR3三種高速模式下的X1至X4多通道測試，具備高帶寬和穩(wěn)定的數(shù)據(jù)捕獲能力，可配合多種物理連接方式，包括M.2、SMA、Multi-lead和Mid Bus等，適應(yīng)不同的測試場景需求。

LeCroy Eclipse X34 MIPI M-PHY協(xié)議分析儀

做為力科在移動接口測試領(lǐng)域的核心產(chǎn)品之一，Eclipse X34協(xié)議分析儀不僅支持M-PHY層的協(xié)議解析，還逐步擴(kuò)展支持M-PCIe、SSIC以及Unipro/UFS等上層協(xié)議分析，為端到端系統(tǒng)驗(yàn)證提供完整解決方案。

此外，該設(shè)備可與示波器配合使用，集成發(fā)送端測試、接收端測試（通過PeRT3 Phoenix選項(xiàng)）及協(xié)議解析功能，，形成自動化的一致性測試流程，提升測試效率與準(zhǔn)確性、

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