LE-SP-ES系列發(fā)射光譜測量系統(tǒng) Emission Spectrum Measurement System                                       

LE-SP-ES-LEDS系列光譜分布和色坐標測量系統(tǒng)

Spectral Measurement System for LED Light source

    本系統(tǒng)是理歐光電LEOPTICS?的一套專門用于測試各種發(fā)光材料和器件（比如LED光源，燈泡等）的發(fā)射光譜分布和色坐標的測量系統(tǒng)。這套系統(tǒng)覆蓋了200nm到1700nm光譜范圍，可以根據(jù)客戶需求進行光譜范圍選擇。系統(tǒng)采用低雜散光和高通光效率分光光路設計，并集成了進口高靈敏度CCD探測器和低噪聲信號采集系統(tǒng)，確保了光譜測量的靈敏度和準確性，可以精確分析光源和輻射源的光譜特性，針對可見光的照明用途LED光源和燈泡等發(fā)光器件，可以測量色坐標。并且可以升級測量光譜輻射照度。

產(chǎn)品功能和應用Applications

□ 測試各種發(fā)光體，如白熾燈、溴鎢燈、熒光燈、LED、激光器、等離子體、原子發(fā)射、紅外光源等的發(fā)射光譜分布。

□ 測試各種光源的照度，亮度，光譜輻照度，光譜輻射亮度和色度

□ 光學測量和分析領(lǐng)域

□ 科研領(lǐng)域

□ 工業(yè)領(lǐng)域

□ 計量領(lǐng)域

□ 領(lǐng)域

主要規(guī)格及特色Features&Benefits

□ 被測光源的發(fā)光光譜范圍：200-1700nm(光譜范圍根據(jù)配置和要求選擇)

□ 本系統(tǒng)可以配套LE-SP-LED系列發(fā)光效率和色度測量系統(tǒng)使用，用于發(fā)光材料和器件的完整光量測參數(shù)測量。

□ 光譜測試系統(tǒng)由分光部分、探測部分、數(shù)據(jù)采集處理部分和軟件構(gòu)成

□ 專業(yè)優(yōu)化設計的系統(tǒng)光路，雜散光小，通光效率高

□ 可選積分球附件，專門用于精確測量色坐標

□ 專業(yè)光譜分析和色坐標測試軟件

□ 各種光譜波段優(yōu)化光柵可供不同用途需要進行選擇

□ UV型采用紫外增強CCD技術(shù)

□ 超小體積，方便移動便攜

□ 高穩(wěn)定性光路結(jié)構(gòu)，免維護

□ 系統(tǒng)擴展性好，方便客戶購買基本配置后進行系統(tǒng)升級和功能擴展

□ 可升級測試照度，亮度，光譜輻射照度，光譜輻射亮度，輻射通量，光通量，色坐標等
     

□ 全自動測量

□ 可選擇單獨某個功能模塊測試

軟件功能Professional Software

   理歐光電LEOPTICS?專門設計的LESPSoft系列光譜和色坐標測試軟件，可控制整套系統(tǒng)的自動光譜測量、色坐標測量等，并且可將數(shù)據(jù)保存為軟件專有的數(shù)據(jù)格式，也可保存為常用的txt、excel、jpeg、gif等格式。

主要型號參數(shù)表格Datasheet Table

LE-SP-ES-LEDS系列光譜測量系統(tǒng)

備注：1,*可擴展升級到800-2500nm光譜范圍

      2,對于特殊要求，我公司可提供專業(yè)的整體解決方案，并提供系統(tǒng)定制。

光柵選擇Optional Gratings

可選附件Optional Accessories