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LE-SP-ART系列 透射、反射和吸收光譜測試系統(tǒng)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱深圳市理歐光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號LE-SP-ART
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2026/3/16 14:42:21
  • 訪問次數(shù)87
產(chǎn)品標簽:

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 深圳市理歐光電科技有限公司自2007年成立至今,一直致力于光學(xué)元件(玻璃/塑膠鏡片、鏡頭、濾光片、棱鏡)、光學(xué)系統(tǒng)(光譜測量、光電弱信號檢測、光量測)、光學(xué)儀器(激光器、單色儀、光源、光電探測器)、光學(xué)精密機械(精密位移、光學(xué)隔振平臺)的設(shè)計、制造及銷售工作。已從早期的單純光學(xué)產(chǎn)品代理,成功轉(zhuǎn)型為擁有:自主研發(fā)、高精制造、國際品牌的型企業(yè)?! ∩钐帯肮狻?、“機”、“電”一體化的時代,LEO人一向秉承“人才培養(yǎng)、技術(shù)創(chuàng)新、制度管理”的宗旨:  人才培養(yǎng):企業(yè)從研發(fā)、制造及銷售,各環(huán)節(jié)均由光學(xué)專業(yè)人員負責(zé)。并且每年都有來自國內(nèi)光學(xué)高校的新生力量注入團隊。企業(yè)高薪聘請業(yè)內(nèi)技術(shù)顧問。為企業(yè)發(fā)展奠定了堅固、穩(wěn)定的基礎(chǔ)?! 〖夹g(shù)創(chuàng)新:“以市場為導(dǎo)向、以技術(shù)為根本”不斷研發(fā)迎合市場需求的產(chǎn)品、擴充產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域。設(shè)計技術(shù)、制造工藝等不斷學(xué)習(xí)、改進、創(chuàng)新;多項自主創(chuàng)新技術(shù)的成功發(fā)明及申請;提升了LEO自身競爭力,使LEO走出了自身特色?! ≈贫裙芾恚荷朴诮梃b成功企業(yè)管理經(jīng)驗及制度,并結(jié)合自身情況。開展正規(guī)、系統(tǒng)化管理;注冊“LEOPTICS”商標;樹立、經(jīng)營企業(yè)品牌形象等舉措。LEO逐漸形成了一套適合自身的現(xiàn)代企業(yè)管理制度及模式?!  皩I(yè)、誠信、友善”的經(jīng)營理念,將LEO推向并得到客戶的接受與認可。除做好本土市場外,還在韓國、中國臺灣、印度、法國、美國等世界各地成功發(fā)展了代理商及合作伙伴。LEO售出的不只是產(chǎn)品,更多的是提供專業(yè)的技術(shù)支持及完整的系統(tǒng)解決方案;以及長久、雙贏的戰(zhàn)略合作關(guān)系。LEO產(chǎn)品、LEO品牌、LEO精神已觸及世界各地!  “Expert at Optical Solutions - 成為您身邊的光學(xué)專家”是LEO全體同仁努力不懈、孜孜以求的目標及承諾!
發(fā)射光譜儀
光譜范圍:0.2um~28um(光譜范圍可選,常用范圍:350nm-900n
LE-SP-ART系列 透射、反射和吸收光譜測試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息
LE-SP-ART系列 透射、反射和吸收光譜測試系統(tǒng)
Absorption,Reflection&Transmission Measurement System

產(chǎn)品功能和應(yīng)用Applications

測試平面光學(xué)元件(如棱鏡、濾光片、光柵、平行平板、鍍膜、半導(dǎo)體器件、太陽能電池片等)的吸收、透射/反射光譜。

█ 測試球面光學(xué)元件(凹面鏡、凸面等)的吸收、透射/反射光譜。

測試各種漫反射樣品或粉末的散射吸收光譜

█ 測試各種材料(半導(dǎo)體材料、薄膜材料、溶液、玻璃、晶體、布料、汽車貼膜、眼鏡等)的吸收、透射/反射光譜。

█ 測試各種農(nóng)產(chǎn)品(水果、稻谷、小麥)的吸收、散射光譜。

測試各種光與物質(zhì)作用時,通過光信號不同波長的吸收判斷物質(zhì)特性的領(lǐng)域

主要規(guī)格及特色Features&Benefits

█ 光譜范圍:0.2um~28um(光譜范圍可選,常用范圍:350nm-900nm,200nm-1100nm,350nm-2500nm,200nm-2500nm,1-5um,8-14um,2-16um)

波長分辯率:0.03nm~10nm (由所選波長范圍確定)

█ 測試系統(tǒng)高集成度,全自動化的測量

光源采用德國OSRAM紫外、可見、近紅外燈泡,進口中遠紅外SiCSiN發(fā)光模塊

█ 光信號探測采用美國進口高靈敏度紫外、可見、紅外探測器,并且可選擇配套TEC制冷或液氮制冷,大大降低探測器的暗噪聲水平

針對特別弱的紅外信號,信號處理部分可選配美國進口的鎖相放大器和光學(xué)斬波器

兩種專用系統(tǒng)可選,分別針對平面光學(xué)元件和球面光學(xué)元件光譜分析測試

系統(tǒng)可擴展升級測量平面光學(xué)元件不同入射角的反射和透射光譜

█ 專業(yè)優(yōu)化設(shè)計的系統(tǒng)光路,雜散光小,通光效率高

█ 超大多功能樣品室,便于操作,可選擇液體、固體樣品架;并配備透射專用比色皿

可選積分球附件,專門用于測試各種漫反射樣品

軟件自動化控制

系統(tǒng)擴展性好,方便客戶購買基本配置后進行系統(tǒng)升級和功能擴展

 

產(chǎn)品參數(shù)Specifications

產(chǎn)品型號Model

LE-SP-ART Series

光源Light source

LEOPTICS? UV-VIS-IR Stabilized Light sourceOptional

光源功率Lamp Power

30W~1550W(Optional)

光譜測試范圍Spectral Range

200nm~28um

光譜分辨率Spectral Resolution

0.03nm~10nm(Optional)

測量內(nèi)容Measurement

透射、反射、吸收光譜(可選)

樣品尺寸Sample Dimension

5mm~68mmOptional),特殊大小可定制

樣品類型Sample Type

固體平面&薄膜或液體(標準),特殊樣品可定制樣品測試夾具

波長重復(fù)性Wavelength Repeatability

0.1nm

波長準確度Wavelength Accuracy

0.2nm

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