B-HAST 偏壓老化測試試驗(yàn)箱是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實(shí)時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預(yù)先設(shè)定,當(dāng)被測材料實(shí)時漏電流超出設(shè)定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護(hù)被測元件不被進(jìn)一步燒毀。
特點(diǎn):
每顆器件的Vgs獨(dú)立控制
實(shí)時監(jiān)測每個試驗(yàn)器件的Id、Ig
控制上、下電時序
全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel
試驗(yàn)報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線
漏電流超限保護(hù),自動切斷測量回路
應(yīng)用:
二極管,三極管,MOSFET,IGBT,SBD,GaN Fet, SCR以及各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。








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