GB/T10064導(dǎo)電塑料四探針方塊電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針原理測(cè)量方塊電阻的專用儀器,電阻率和電導(dǎo)率同時(shí)顯示。儀器 測(cè)試范圍0-10MΩ,小分辨率0.1uΩ,電阻小精度0.01%,精度2%。可用于測(cè)試半導(dǎo)體、?屬涂層導(dǎo)電薄膜等材料的電阻和電阻率。
一、簡(jiǎn)介
GB/T10064導(dǎo)電塑料四探針方塊電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針原理測(cè)量方塊電阻的專用儀器,電阻率和電導(dǎo)率同時(shí)顯示。儀器 測(cè)試范圍0-10MΩ,小分辨率0.1uΩ,電阻小精度0.01%,精度2%??捎糜跍y(cè)試半導(dǎo)體、?屬涂層導(dǎo)電薄膜等材料的電阻和電阻率。
GB/T10064導(dǎo)電塑料四探針方塊電阻率測(cè)試儀配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示,無人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。
四端測(cè)試法是目前較之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;本儀器用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
自動(dòng)雙極板材料四探針低阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求。
二、特點(diǎn)
●測(cè)試探頭直排和矩形可選;
●標(biāo)配RS232、LAN、IO、通訊接?;
●可配戴軟件查看和記錄測(cè)試數(shù)據(jù);
●電阻?精度:0.01%,小分辨率0.1uΩ;
●方電阻精度:1%,小分辨率:0.1uΩ;
●雙電測(cè)原理,提?精度和穩(wěn)定性;
三、適用范圍
● 四探針治具測(cè)試片狀或塊狀半導(dǎo)體材料、金屬涂層以及導(dǎo)電薄膜等材料的電阻和電阻率
● 開爾文測(cè)試夾直接測(cè)試電阻器直流電阻;
四、參數(shù)
1. 便于查看的顯示/直觀的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示;操作易學(xué),直觀使用;
2. 基本設(shè)置操作簡(jiǎn)單,方阻、電阻、電阻率、電導(dǎo)率和分選結(jié)果;多種參數(shù)同時(shí)顯示。
3. 精度高:電阻基本準(zhǔn)確度: 0.01%;
方阻基本準(zhǔn)確度:1%;
電阻率基本準(zhǔn)確度:1%
4. 整機(jī)測(cè)量大相對(duì)誤差:≤±1%;整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度:≤±1%
5. 正反向電流源修正測(cè)量電阻誤差
6. 恒流源:電流量程為:DC100mA-1A;儀器配有恒流源開關(guān)可有效保護(hù)被測(cè)件,即先讓探針頭壓觸在被測(cè)材料上,后開恒流源開關(guān),避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率,如探針帶電壓觸單晶對(duì)材料及測(cè)量并無影響時(shí),恒流源開關(guān)可一直處于開的狀態(tài)。
7. 可配合多種探頭進(jìn)行測(cè)試;也可配合多種測(cè)試臺(tái)進(jìn)行測(cè)試。
8. 厚度可預(yù)設(shè),自動(dòng)修正樣品的電阻率,無查表即可計(jì)算出電阻率。
9. 自動(dòng)進(jìn)行電流換向,并進(jìn)行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測(cè)量,顯示平均值.測(cè)薄片時(shí),可自動(dòng)進(jìn)行厚度修正。
10. 雙電測(cè)測(cè)試模式,測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好.
11. 具備溫度補(bǔ)償功能,修正被測(cè)材料溫漂帶來的測(cè)試結(jié)果偏差。
12. 比較器判斷燈直接顯示,勿需查看屏幕,作業(yè)效率得以提高。3檔分選功能:超上限,合格,超下限,可對(duì)被測(cè)件進(jìn)行HI/LOW判斷,可直接在LCD使用標(biāo)志顯示;也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細(xì)的分選結(jié)果。
13. 測(cè)試模式:可連接電腦測(cè)試、也可不連接電腦單機(jī)測(cè)試。
14. 軟件功能(選配):軟件可記錄、保存、各點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù);可供用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。
GB/T 10064-2006測(cè)量固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法
前言
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC 60167:1964(測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》(英文版)。為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)作了下列編輯性修改:
a)刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的目次、前言和序言
b)刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的小標(biāo)題一節(jié)至第八節(jié);
c)用小數(shù)點(diǎn)“。’代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)",’:
d刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第12章的注;
e)增加第2章規(guī)范性引用文件,刪除第19章參考文獻(xiàn);
D圖按GB/T1.1-2000標(biāo)注,
考慮到我國(guó)國(guó)情,將IEC 60167;1964第9章中“錫箔"改用“鋁箔"。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 10064-1988(固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄
測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定絕緣電阻的方法,但不再區(qū)分體積電阻和表面電阻。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于試樣精度要求不高,只要求一般定性的快速測(cè)定電阻值的場(chǎng)合。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GR/T1410-2006國(guó)體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法(IEC60093;1980.IDT)
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
絕緣電把iasulation resistance
與試樣接觸或嵌入試樣的兩個(gè)電極之間的絕緣電阻,是加在電極上的直流電壓與施加電壓一定時(shí)間后電極間總電流之比。它取決于試樣的體積電阻和表面電阻,
4意
4.1按本方法所測(cè)出的電阻值包括了體積電租和表面電阻,但未將這兩部分區(qū)分開。本方法與體積電阻率和表面電阻率推薦試驗(yàn)方法相比(見GB/T 1410-2006),不能給出所測(cè)材料十分確定的數(shù)值,但是所測(cè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可以用來比較不同絕緣材料的性能。
4.2本方法非常適用于確定濕度對(duì)吸型的絕緣材料的影響,在這些絕緣材料中,條件處理不僅會(huì)望著改變材料的表面絕緣性能,而且也會(huì)顯著改變材料內(nèi)部的絕緣性能。
5試驗(yàn)設(shè)備
5.1 絕緣電阻可以用電橋法或者用測(cè)量電流和電壓的方法來確定。這些方法詳見GB/T 1410-2006.5.2測(cè)量時(shí)施加足夠穩(wěn)定的直流電壓,使電壓變化時(shí)所出現(xiàn)的充電電流與貫穿試樣的電流相比可忽略不計(jì),如需要,可使用若干電池。
6 電極
材料在試驗(yàn)條件下應(yīng)不會(huì)被腐蝕,且不會(huì)與被測(cè)材料起反應(yīng),可以使用下列幾種電視:當(dāng)測(cè)量側(cè)重于體積電配時(shí),通常使用圓錐形插銷電極:當(dāng)測(cè)量側(cè)重于表面電阻時(shí),使用其他幾種電極。
7固錐形插銷電極(對(duì)平板、管狀和棒狀試樣)
采用直徑約5mm并帶有約2%錐度的干凈黃銅或不銹鋼作為國(guó)錐形插銷電極,其長(zhǎng)度應(yīng)符合第10章的要求。這些電極適用于平板,管狀和棒狀試樣(見圖1、圖2),將電極插人試樣上兩個(gè)中心距離
為25mm±1mm的橫向并列的孔中(見第10章)。
8導(dǎo)電涂料電極(對(duì)平板,營(yíng)狀和律狀試樣)
導(dǎo)電除料可用作電極材料,可電涂料的溶劑應(yīng)對(duì)被測(cè)材料沒有任何影響,兩條1mm寬的導(dǎo)電涂
料條沿著管或棒的圓周面等距離地涂上,使相鄰兩邊的間隔為10mm±0.5mm,這種電極也可以用于板狀試樣,此時(shí)電極是兩條平行的1mm寬的導(dǎo)電涂料,每個(gè)電極的總長(zhǎng)度是100mm±1mm,它們的間距為10 mm±0.5mm(見圖3.圖4)。
9條形電極(對(duì)薄片試樣及帶狀試樣)
電極是尺寸約為10 mmx10 mmX50 mm的金屬條形夾子,兩電極間的距離為25mm±0.5 mm(見圖5)。這種電極適用于薄片材料(通常為1mm厚或更薄)和柔軟帶狀材料。條形電極可用絕緣件安裝在全屬支架上,金屬支架在測(cè)量電阻時(shí)可用作保護(hù)電極(見圖5e))。
另一種方法,電極可用試樣來支撐,或用兩個(gè)絕緣件將試祥兩端支撐起來(見圖5b))。對(duì)剛性材料,條形電極應(yīng)用鋁箱卷繞,卷糖鋁箭的電極與試樣夾緊后,應(yīng)該用一組小的工具沿電極邊緣壓平鋁箔,
以保證電極與試樣緊密接觸。
10用圓錐形描銷電極的試樣
用圓錐形插銷電極進(jìn)行測(cè)量時(shí),矩形平板試樣尺寸至少為50 mmX75mm(見圖1).管或棒試樣直徑至少為20mm,長(zhǎng)度至少為75mm(見圖2)。為了插人這種電板.在平板,管或棒試梯上鉆兩個(gè)平行于橫向并列垂直于板面的小孔,其中心間距為25 mm±1mm,將孔用絞刀纏成與插銷電板一樣的鐮度以后,每個(gè)孔大端的直徑應(yīng)在4.5mm至5.5 mm之間。兩個(gè)孔應(yīng)該鉆穿試樣,如果懸管狀試樣則只粘通一管壁。
在鉆或投試樣時(shí),應(yīng)注意保證小孔附近的材料不受任何損壞(例如開裂,擔(dān)傷或炭化)??字行碾x開試樣邊緣至少25mm,將電極壓人(而不是錘人)孔中,以使電極與試樣緊密配合,并使電極伸到試樣
外不小于2mm(見圖1和圖2)。
11用導(dǎo)電涂料電極的試樣
用導(dǎo)電涂料電極進(jìn)行測(cè)量時(shí),矩形平板試樣尺寸至少是60 mmX150 mm(圖3)。棒或管試樣長(zhǎng)度至少為60mm(見圖4)。
12用條形電極的試樣
用條形電極進(jìn)行測(cè)量時(shí),帶狀或窄條試樣的寬度應(yīng)為25.5mm或更窄一些,長(zhǎng)度至少為50mm(見圖5)。
13試樣處理
試樣的預(yù)處理,條件處理,試驗(yàn)的條件取決于被試材料的性質(zhì).應(yīng)在材料規(guī)范中規(guī)定,
14試驗(yàn)程序
14.1每次試驗(yàn)所用試樣的數(shù)量應(yīng)在材料規(guī)范中規(guī)定。在進(jìn)行電阻測(cè)量之前,試樣應(yīng)適當(dāng)?shù)毓P選(見第17章),清潔(見第18章),安裝(見第19章)和處理(見第13章)。應(yīng)保持在處理的大氣條件下對(duì)每個(gè)試樣分別進(jìn)行電阻測(cè)定。
當(dāng)試驗(yàn)過程中在試樣周圍不可能保持所要求的大氣條件,則應(yīng)迅速地將試樣從處理的大氣中移出并在幾分鐘內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn),試樣移出和側(cè)量之間所允許的時(shí)間應(yīng)在材料規(guī)范中規(guī)定,規(guī)范中也應(yīng)規(guī)定是在
處理前還是處理后安裝電極,
14.2 試樣和電極應(yīng)按照第6拿至第12章進(jìn)行選擇,應(yīng)用滿足其靈敏度和精確度要求的儀器進(jìn)行電阻測(cè)量(見第5章),除非另有規(guī)定,施加電壓應(yīng)為500V±10V,電化時(shí)間應(yīng)為1min。
15結(jié)果表達(dá)與計(jì)算公式
用導(dǎo)電涂料電極測(cè)量管和棒試樣時(shí),被測(cè)電阻R;應(yīng)用下式換算成電極長(zhǎng)度為100mm時(shí)的電阻:
R
式中:
R-對(duì)應(yīng)于長(zhǎng)度為100mm的試樣電阻,單位為歐姆(Ω):
d一-管或棒的直徑,單位為毫米(mm)。
用條形電極測(cè)量寬度不是25 mm 的試樣時(shí),被測(cè)電阻Rx應(yīng)用下式換算成寬度為25mm時(shí)的
電阻:
R=.R
式中
R對(duì)應(yīng)于寬度為25mm的電阻,單位為歐姆(Ω);
b-寬度,單位為毫米(mm)。
16試驗(yàn)報(bào)告
試驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)包括下列項(xiàng)目:
絕緣材料的名稱;
一一試樣尺寸:
一一試驗(yàn)方法和電極類型,包括導(dǎo)電涂料的性質(zhì):
電極是在處理前還是處理后安裝;
-清潔方法;
一一預(yù)處理(必要時(shí))和條件處理:
測(cè)量過程中的條件;
一-試驗(yàn)電壓:
--電化時(shí)間:
--測(cè)量得到的各個(gè)絕緣電阻數(shù)值。
注;用各個(gè)絕緣電阻數(shù)值的算術(shù)平均值作為試驗(yàn)結(jié)果不太理想,因?yàn)楦邤?shù)值對(duì)結(jié)果影響太大。反之,取各個(gè)試樣的電導(dǎo)率的算術(shù)平均值作為試驗(yàn)結(jié)果,則低數(shù)值又有很大的影響。因而好使用各個(gè)數(shù)值的對(duì)數(shù)的算術(shù)平均值,即幾何平均值,以避免個(gè)別數(shù)值帶來的影響太大。
17試樣選擇
絕緣電阻的測(cè)量值很大程度上取決于試樣的表面狀況,應(yīng)注意選擇表面沒有損傷的試樣,
18試樣清潔
在許多情況下要求在使用條件下進(jìn)行試驗(yàn)。此時(shí),試樣不應(yīng)清潔處理。如果希望擦凈,應(yīng)在條件處理以前將試樣表面用乙醉和**混合液或其他合適的溶劑擦凈,并不與棵手指接觸(建議帶醋酸纖維手套).
19試樣安裝
在安裝被測(cè)試樣時(shí),除了與試樣相連的電極外,電極之間不應(yīng)有導(dǎo)電通路。當(dāng)安裝支架要求保護(hù)電極時(shí),應(yīng)按照GB/T1410-2006中規(guī)定的方法進(jìn)行。
四探針電阻率測(cè)試儀在半導(dǎo)體、新能源、微電子等領(lǐng)域都是測(cè)量電阻率的“黃金標(biāo)準(zhǔn)”,我來幫你梳理一下它的主要應(yīng)用場(chǎng)景:
一、半導(dǎo)體材料研究
•?硅、鍺、砷化鎵等材料?:直接測(cè)電阻率、載流子濃度和摻雜類型,雜質(zhì)含量一目了然。
•?晶圓制造?:檢測(cè)外延片、離子注入片的電阻率均勻性,確保工藝質(zhì)量。
•?溫度依賴性研究?:分析材料電學(xué)性能隨溫度的變化。
二、薄膜材料分析
•?金屬膜、氧化物薄膜?:評(píng)估導(dǎo)電性能,比如氧化鋁、氮化硅等。
•?光伏領(lǐng)域?:測(cè)太陽(yáng)能電池薄膜的方阻分布,優(yōu)化制備工藝。
•?微納米金屬燒結(jié)體?:高精度測(cè)電阻率,避免接觸電阻干擾。
三、納米材料與石墨烯表征
•?石墨烯?:測(cè)薄層電阻和載流子遷移率,分析晶界、褶皺對(duì)電導(dǎo)率的影響。
•?微四探針技術(shù)?:晶圓級(jí)石墨烯電導(dǎo)性能的高分辨率評(píng)估,誤差低于0.1%。
四、導(dǎo)電材料檢測(cè)
•?合金、陶瓷等材料?:支持大尺寸樣品直接測(cè)量。
•?微電子器件?:快速檢測(cè)器件的電學(xué)性能。
五、工業(yè)與科研應(yīng)用
•?電阻率mapping技術(shù)?:分析材料表面電學(xué)性能的空間分布。
•?范德堡法結(jié)合?:適用于任意形狀樣品的電阻率測(cè)量。
六、功率半導(dǎo)體與集成電路
•?生產(chǎn)工藝監(jiān)控?:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)外延生長(zhǎng)、離子注入、擴(kuò)散工藝中的電阻率變化。
•?工藝設(shè)備校準(zhǔn)?:監(jiān)測(cè)擴(kuò)散爐溫度分布、金屬或介質(zhì)膜沉積厚度等。
七、光伏行業(yè)
•?太陽(yáng)能電池測(cè)試?:適用于單晶硅、多晶硅、非晶硅、鈣鈦礦等材料的電阻率測(cè)量。
•?液晶面板?:測(cè)ITO/AZO等導(dǎo)電薄膜的電阻率。
八、功能材料研究
•?熱電材料、碳納米管、石墨烯等?:高精度測(cè)量電阻率。
•?半導(dǎo)體工藝檢測(cè)?:用于金屬化、離子注入、擴(kuò)散層等工藝的電阻率測(cè)試。
九、非晶合金與形狀記憶合金
•?非晶合金?:測(cè)電阻率,分析其電學(xué)性能。
•?形狀記憶合金?:研究電阻率隨溫度的變化。
十、半導(dǎo)體制造
•?在線檢測(cè)?:設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)試重復(fù)性好,特別適合在線篩查。
•?工藝優(yōu)化?:為工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制提供可靠依據(jù)。
總之,四探針電阻率測(cè)試儀憑借非破壞性、高精度和寬量程的特點(diǎn),在半導(dǎo)體、新能源、微電子等領(lǐng)域都是普遍的工具。
用戶評(píng)論
發(fā)布評(píng)論