一、概述

  GB/T1409-2006聚合物材料介損測(cè)試儀是具有多種功能和更高測(cè)試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測(cè)試頻率2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡(jiǎn)潔。集成了變壓器測(cè)試功能、平衡測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率。GB/T1409-2006聚合物材料介損測(cè)試儀提供了豐富的接口，能滿(mǎn)足自動(dòng)分選測(cè)試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

二、產(chǎn)品用途

介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配）, 三種選項(xiàng)它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。

介電常數(shù)測(cè)試儀中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)可以直接不用人工計(jì)算得到。

三、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

◎可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗 不用人工計(jì)算

◎可測(cè)試電阻

◎ 4.3寸TFT液晶顯示

◎ 中英文可選操作界面

◎ 5MHz的測(cè)試頻率

◎ 平衡測(cè)試功能

◎ 變壓器參數(shù)測(cè)試功能

◎ 測(cè)試速度:13ms/次

◎ 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能

◎ V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

◎ 內(nèi)部自帶直流偏置源

◎ 可外接大電流直流偏置源

◎ 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻

◎ 內(nèi)建比較器，10檔分選和計(jì)數(shù)功能

◎ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存

◎ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～105

四、ε和D性能

固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測(cè)試。

ε和D測(cè)量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D測(cè)量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

測(cè)試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測(cè)試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度 ;0.1%

顯示范圍

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

測(cè)量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能 :開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式:自動(dòng), 保持

顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線(xiàn)

內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

精度：±0.02%

電容測(cè)量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

電容測(cè)量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）： 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極，能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

微分頭分辨率：10μm

耐壓：±42Vp（AC+DC）

電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m

使用頻率：5MHz （選配）

五、性能特點(diǎn)

1. 平板電容器     極片尺寸：φ25.4mm\φ50mm  極片間距可調(diào)范圍和分辨率：≥10mm，±0.01mm

2. 園筒電容器     電容量線(xiàn)性：0.33pF / mm±0.05 pF長(zhǎng)度可調(diào)范圍和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

3. 夾具插頭間距：25mm±1mm

4. 夾角損耗角正切值：≤4×10－4（1MHz時(shí)）

5、數(shù)顯電極

六、維修養(yǎng)護(hù)

本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備，所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測(cè)試夾具受到碰撞，或者作為定期檢查，要檢測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo)：

1.平板電容器二極片平行度不超過(guò)0.02mm。

2.園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過(guò)0.1mm。

3.保證二個(gè)測(cè)微桿0.01mm分辨率。

4.用精密電容測(cè)量?jī)x（±0.01pF分辨率）測(cè)量園筒電容器，電容呈線(xiàn)性率，從0~20mm，每隔1mm測(cè)試一點(diǎn)，要求符合工作特性要求。

GB/T 5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量

前言

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60247:2004《液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量》(英文版)。

為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改。

a)用小數(shù)點(diǎn)符號(hào)‘.’代替小數(shù)點(diǎn)符號(hào)‘，’;

b)“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)";

本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 5654-1985《液體絕緣材料工頻相對(duì)介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù)和體積電阻率的測(cè)量》。

本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 5654-1985相比主要變化如下:

a)本標(biāo)準(zhǔn)增加了“引言"及“規(guī)范性引用文件"章節(jié);

b)在直流電阻率測(cè)量中,將“試驗(yàn)電壓使液體承受200 V~300V/mm……"改為“試驗(yàn)電壓應(yīng)使液體承受250V/mm……";將電化時(shí)間“60s"改為“60 s±2 s";將“注試樣15min后開(kāi)始測(cè)量"改為“不超過(guò)10min開(kāi)始測(cè)量";

c)本標(biāo)準(zhǔn)增加了圖2、圖3、圖4、圖 5。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC51)歸口,本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:桂林電器科學(xué)研究所。

引言

健康和安全:

警告:本標(biāo)準(zhǔn)不涉及所有與使用有關(guān)的安全問(wèn)題,使用本標(biāo)準(zhǔn)的人員有責(zé)任建立合適的健康與安全規(guī)則,并在使用之前確定受規(guī)則限制的適用范圍。

環(huán)境:

本標(biāo)準(zhǔn)會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)生某些絕緣液體、化學(xué)品、使用過(guò)的樣品容器和油污染固體等問(wèn)題,對(duì)這些物品的處置應(yīng)按相關(guān)法規(guī)進(jìn)行,以減少對(duì)環(huán)境的影響和危害,并應(yīng)作一切預(yù)防措施以防止這些液體因遺棄而污染環(huán)境。

液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在試驗(yàn)溫度下液體絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù),相對(duì)電容率和直流電阻率的測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)主要是對(duì)未使用過(guò)的液體做參考性試驗(yàn),但也適用于在運(yùn)行中的變壓器,電纜和其他電工設(shè)備中的液體。然而,本標(biāo)準(zhǔn)只適用于單相液體,當(dāng)做例行測(cè)量時(shí)可以采用簡(jiǎn)化方法和附錄C所述的方法。

對(duì)于非碳?xì)浠衔锝^緣液體,則要求采用其他清洗方法。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T1409-2006固體絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法(IEC 60250:1969,MOD)

GB/T 1410-2006固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法(IEC60093;1980,IDT)GB/T 21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法(IEC 61620:1998，

IDT)

IEC 60475液體電介質(zhì)取樣方法

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

(相對(duì))電容率permittivity(relative)

絕緣材料的相對(duì)電容率是一電容器的兩電極周?chē)蛢呻姌O之間均充滿(mǎn)該絕緣材料時(shí)所具有的電容量C.與同樣電極結(jié)構(gòu)在真空中的電容量C之比。

用該電極在空氣中的電容量C.代替C。,對(duì)于測(cè)量相對(duì)電容率具有足夠的精確度。

3.2

介質(zhì)損耗因數(shù)(tan?)dielectric dissipation factor (tano)

絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)(tand)是損耗角的正切。

當(dāng)電容器的介質(zhì)僅由一種絕緣材料組成時(shí),損耗角是指外施電壓與由此引起的電流之間的相位差偏離π/2的弧度。

注:實(shí)際應(yīng)用中,tan8測(cè)得值低于0.005時(shí),tan8和功率因數(shù)(PF)基本上相同?？捎靡粋€(gè)簡(jiǎn)單的換算公式將兩者進(jìn)

行換算。功率因數(shù)是損耗角的正弦,功率因數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)之間的關(guān)系可表達(dá)為下式:

式中:

PF一功率因數(shù)

tan 8介質(zhì)損耗因數(shù)。

3.3

直流電阻率(體積)d.c.resistivity(volume)

絕緣材料的體積電阻率是在材料內(nèi)的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與穩(wěn)態(tài)電流密度的比值。注:電阻率的單位是歐姆米(Ω.m)。

4概述

電容率、tan8和電阻率,無(wú)論是單一還是全部,都是絕緣液體的而有質(zhì)量和污染程度的重要指標(biāo)。這些參數(shù)都可用于解釋所要求的介電特性發(fā)生偏離的原因,也可解釋其對(duì)于使用該液體的設(shè)備所產(chǎn)生的潛在影響。

4.1 電容率和介質(zhì)損耗的數(shù)。

電氣絕緣液體的電容營(yíng)部分質(zhì)損粕因數(shù)(tane)在相當(dāng)大程度上取決于試驗(yàn)條件,特別是溫度和施加電壓的頻率,電容車(chē)在工頻和足夠高下與的的人桿,對(duì)務(wù)是無(wú)依的歸于液體中和介質(zhì)損耗因數(shù)都是介質(zhì)極化和材料電導(dǎo)的度量.自由載流子的存在,測(cè)量高純凈絕緣液體的介電特性,對(duì)判別電離雜質(zhì)的存在很有價(jià)值。介質(zhì)損耗與測(cè)量頻率成反比,且隨介質(zhì)粘度的變化而變化、試驗(yàn)電壓值對(duì)測(cè)量損耗因數(shù)影響不大，它通常只是受電橋的關(guān)敏度所限制，但是(應(yīng)考慮到高的電場(chǎng)強(qiáng)度會(huì)引起電極的二次救應(yīng)、介質(zhì)發(fā)熱、放電等影響。較大的雜質(zhì)所北Z的電容率的變化相對(duì)較小,而其介質(zhì)損耗則強(qiáng)烈地受極小量的可電離溶解雜質(zhì)

或膠體微粒的影響，性還導(dǎo)致它有較高

些液體有較大的極性,所以對(duì)雜質(zhì)的敏感性較之碳?xì)浠衔镆后w要強(qiáng)得多。極的陪解和電離的能力,因此在操作時(shí)要比對(duì)碳?xì)浠衔镆后w更應(yīng)小心。通常認(rèn)為初始值能地代表液體的實(shí)際狀態(tài)，所以更希望能在一達(dá)到溫度平衡時(shí)就測(cè)量介質(zhì)損數(shù)對(duì)溫度的變化很敏感,通常是隨溫度的增加成指數(shù)式的增大,因此需要在足夠精下面所述的方法使試樣溫度在很短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到與試驗(yàn)池平衡。

耗因數(shù),介質(zhì)損耗因確的溫度條件下進(jìn)行訂基

4.2電阻率

用本標(biāo)準(zhǔn)的方法測(cè)得的電阻率通常并不是真正的電阻率。當(dāng)施加直流電壓后,由于電荷遷移,將使液體的起始特性發(fā)生隨時(shí)間而變化。真正的電阻率只有在低電壓下且在剛施加電壓后才可得到。本標(biāo)準(zhǔn)使用比較高的電壓且經(jīng)較長(zhǎng)時(shí)間,因此,其結(jié)果通常是與GB/T21215-2007所得到的不同。本標(biāo)準(zhǔn)中液體的電阻率測(cè)量結(jié)果與試驗(yàn)條件有關(guān),主要有:

a)溫度

電阻率對(duì)溫度的變化特別敏感,是按1/K指數(shù)變化。因此需要在足夠精確的溫度條件下進(jìn)行測(cè)量。

b)電場(chǎng)強(qiáng)度的值

給定試樣的電阻率可受施加電場(chǎng)強(qiáng)度的影響。為了獲得可比的結(jié)果,應(yīng)在近似相等的電壓梯度下進(jìn)行測(cè)量,并應(yīng)在相同極性下進(jìn)行,此時(shí)應(yīng)注明其梯度值和極性。

e)電化時(shí)間

當(dāng)施加直流電壓時(shí),由于電荷向兩電極遷移,流經(jīng)試樣的電流將逐漸減少到一極限值。一般規(guī)定電化時(shí)間為1min,不同的電化時(shí)間可導(dǎo)致試驗(yàn)結(jié)果明顯不同[某些高粘度的液體可能需要相當(dāng)長(zhǎng)的電化時(shí)間(見(jiàn)14.2)]。

4.3測(cè)量次序

將直流電壓施加在試樣上,會(huì)改變其隨后測(cè)量的工頻tan8的結(jié)果。

當(dāng)在同一試樣上相繼測(cè)量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時(shí),工頻下測(cè)量應(yīng)在對(duì)試樣施加直流電壓以前進(jìn)行。工頻試驗(yàn)后,應(yīng)將兩電極短路1min后再開(kāi)始測(cè)量電阻車(chē)。

4.4導(dǎo)致錯(cuò)誤結(jié)果的因素

雖然只有嚴(yán)重污染才會(huì)影響電容率。但徽量的污染卻能強(qiáng)烈地影響tan♂和電阻率。不可靠的結(jié)果通常是由于不適當(dāng)?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴?、由未洗凈試?yàn)池或吸收了水份，特別是存在不溶解的水份所引起。

在貯藏期間長(zhǎng)久暴露在強(qiáng)光線(xiàn)下會(huì)導(dǎo)致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運(yùn)輸以及試驗(yàn)池的結(jié)構(gòu)和凈化的標(biāo)準(zhǔn)化程序,可使由污染引起的誤差減至最小。

5儀器

5.1試驗(yàn)池

同一試驗(yàn)池可用來(lái)測(cè)量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率。適合于這些用途的試驗(yàn)池應(yīng)符合如下要求。

5.1.1試驗(yàn)池應(yīng)設(shè)計(jì)成能容易拆洗所有的部件,并易于重新裝配而不致明顯地改變空池的電容量。同時(shí)試驗(yàn)池還應(yīng)能在所要求的恒定溫度下使用,并提供以所需精確度來(lái)測(cè)量和控制液體溫度的方法。外加熱的爐(或浴)或內(nèi)部電加熱的試驗(yàn)池都可以使用，

5.1.2用來(lái)制造試驗(yàn)池的材料應(yīng)是無(wú)氣孔的,并能經(jīng)受所要求的溫度,電極的中心對(duì)準(zhǔn)應(yīng)不受溫度變化的影響。

5.1.3與被試液體接觸的電極表面應(yīng)拋光如值面,以便清洗容易。液體和電極之間應(yīng)沒(méi)有相互的化學(xué)作用,它們也不應(yīng)受清洗材料的影響。用不銹鋼制造的試驗(yàn)池(電極)對(duì)試驗(yàn)所有類(lèi)型的絕緣液體都是適用的,不應(yīng)使用鋁和鋁合金做電極,因?yàn)樗鼈儠?huì)被堿性的洗凈劑腐蝕。

注:通常在表面上電鍍不如一種金屬制成的電極。但表面鍍金,鎳或銠,只要就得好并保持光好無(wú)損也可瞞意地使用。殷鋼鍍銠電極較好且具有較低熱膨脹的優(yōu)點(diǎn)。也可采用在黃鋼上鍍鎳或金和在不銹鋼上螳鎳的電極。5.1.4用來(lái)支撐電極的固體絕緣材料應(yīng)具有較低的介質(zhì)損耗因數(shù)和較高的電阻率,這些固體絕緣材料不應(yīng)吸收參照液體、被試液體以及清洗材料,也不應(yīng)受它們的影響。

注:通常認(rèn)為熔酗石英是用作試瞼池合近的皓緣材料,由于普通金屬和石英的鳩膨脹系數(shù)不同,它們接合面之間需

要具有充分的徑向間隙。但應(yīng)注意到這間隙會(huì)減小電極間距的精度。

5.1.5保護(hù)電極和測(cè)量電極之間橫跨液面及固體絕緣材料的距離應(yīng)足夠大,以便能承受施加的試驗(yàn)

電壓，

5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何試驗(yàn)池均可使用,用于低裝度液體和施加電壓不超過(guò)2000V

的試驗(yàn)池見(jiàn)圖1一圖5。

三端試驗(yàn)池提供了足以屏蔽測(cè)量電極的有效保護(hù)電極系統(tǒng)。當(dāng)進(jìn)行極精密的電容率測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇三端試驗(yàn)池。在這種測(cè)量中,如有必要,還要求加上一個(gè)可拆卸的特殊屏蔽環(huán),并與連接測(cè)量電極和電

橋的同軸電纜的外層導(dǎo)體(屏蔽)相連接(見(jiàn)圖2)。

在用兩端試驗(yàn)池時(shí),引線(xiàn)屏蔽層通常是接到保護(hù)電極的。為了防止屏蔽層同任何其他表面接觸,應(yīng)將它牢牢地夾在電纜的絕緣層上。當(dāng)用這樣的試驗(yàn)池測(cè)量電阻率時(shí),空池的絕緣撐環(huán)的電阻至少是被測(cè)液體電阻的100倍。同樣,在交流下測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)也應(yīng)有相應(yīng)的比值。

對(duì)于較好的絕緣液體,可能由于絕緣撐環(huán)附加的損耗而改變測(cè)量值，為此,建議使用在兩電極間無(wú)任何固體絕緣材料支撐的試驗(yàn)池,這樣的空試驗(yàn)池的損耗因數(shù)在50Hz時(shí)應(yīng)低于10°。

為了使與液體接觸表面的污染影響減到最小,建議采用具有電極表面面積與液體體積之比小的試驗(yàn)池,例如小于5/cm。

5.2試驗(yàn)箱

試驗(yàn)箱應(yīng)能保持其溫度不超過(guò)規(guī)定值的士1℃,并有連接試驗(yàn)池的屏蔽線(xiàn),試驗(yàn)池應(yīng)與試驗(yàn)箱接地外殼絕緣。

5.3玻璃器皿

應(yīng)采用由硼硅琥璃做的普遴化學(xué)玻璃器皿,例如:燒杯、量筒、滴管等,且用于操作試樣的所有玻璃器皿至少都應(yīng)按第6章規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)清洗并仔細(xì)干燥。

5.4電容率和損耗因數(shù)的測(cè)量?jī)x器

只要其測(cè)量精度和分辨率適合于被試樣品，可采用任何交流電容和介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量?jī)x器，交流電容電橋及試驗(yàn)線(xiàn)路的示例與GB/T 1409-2006中規(guī)定一致。

5.5直流電阻率的測(cè)量?jī)x器

只要其精度和分辨率適合于被試樣品,可采用任何儀器。合適的儀器和試驗(yàn)線(xiàn)路與GB/T 1410--2006中規(guī)定一致。

5.6測(cè)時(shí)器

用于測(cè)量電化時(shí)間，準(zhǔn)確到0.5s。

5.7安全措施

危險(xiǎn)警示一一應(yīng)確保設(shè)備的安全裝置正常運(yùn)行。

清洗用溶劑

用于清洗試驗(yàn)池的溶劑應(yīng)至少是符合工業(yè)純要求的,其對(duì)試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)無(wú)影響,溶劑應(yīng)貯存在棕色的玻璃瓶里。

如果溶劑是以桶裝交貨的,應(yīng)過(guò)濾,過(guò)濾后的溶劑應(yīng)貯存在具有標(biāo)記的茶色玻璃瓶里。

烴類(lèi)溶劑，例如汽油(沸點(diǎn)60℃~80℃)、正庚烷、環(huán)已烷和甲苯,對(duì)清洗烴類(lèi)油是合適的。對(duì)于有機(jī)酯液體,推薦用酒精清選,對(duì)于硅液體,則用甲苯清選。其他的絕緣液體,可能需要專(zhuān)用的溶劑清洗。

由于絕緣液體對(duì)極微小的污染的影響都極為敏感,因此測(cè)量介電性能時(shí)試驗(yàn)池的清洗是重要的，

7清洗試驗(yàn)池

在進(jìn)行參考試驗(yàn)以中定要經(jīng)常清洗試驗(yàn)性，

在進(jìn)行例行試驗(yàn)時(shí)，會(huì)上一次測(cè)的液體特性在規(guī)定值范圍內(nèi),且上一次利這次的被測(cè)液體的化學(xué)

類(lèi)型相似，就不必清比試驗(yàn)池。但下一次試驗(yàn)前，應(yīng)用定體積的待測(cè)樣品至少仲洗試驗(yàn)池三次。

當(dāng)試驗(yàn)池定期展年試驗(yàn)具有相似化學(xué)類(lèi)型和介電性能的液體時(shí),則用一種清潔的液體樣品充滿(mǎn)后貯存起來(lái)，在下一成速量前用一定體積的苻測(cè)樣品全少?zèng)_洗試驗(yàn)池三次。

可使用許多不同類(lèi)型的清洗程序,只要它們已被證明是有效的，

在附錄AUB中介紹了另外請(qǐng)法程序的實(shí)側(cè),

當(dāng)實(shí)驗(yàn)室之間的爭(zhēng)議時(shí)，可又用以下清洗程序，

注:使用海劑)山性意著火危險(xiǎn)及對(duì)人員的有有危害。

7.1

拆卸試

地洗議所有的組成部件,并更換兩次溶劑(兌第6章)，用丙酮漂洗所有部件,然后用軟性擦皂和洗清劑洗滌.

用5%的磷酸餾水溶液成去離了水溶難點(diǎn)排至少5min,然后用蒸僧水或去高子水漂洗幾次。

將所有部件在蒸館水攻去離于水中煮沸至少30 min。

因?yàn)槟承┎牧峡赡芎瞎せ诩訜?05℃~110℃的烘箱中充分烘干各部件且不超過(guò)120min。干燥時(shí)間取決于整個(gè)試驗(yàn)袍的結(jié)構(gòu),但通常用60 min~120min已足以除去任何水份。冷卻前重新裝好試驗(yàn)油“并確保不用裸手接觸到其任何將要浸液休的表面，

7.2 試驗(yàn)池的存放

當(dāng)試驗(yàn)池不用時(shí),推薦使用經(jīng)常試驗(yàn)且清潔的絕緣液體充調(diào)試驗(yàn)池后保存起來(lái)?；虍?dāng)試驗(yàn)不同液體時(shí),用對(duì)試驗(yàn)池?zé)o損害的溶劑充滿(mǎn)后保存。

不經(jīng)常使用試驗(yàn)池時(shí),則應(yīng)將其清洗,干燥并裝配好,存放在干燥無(wú)塵的容器里。也可以按照制造商推薦的方法來(lái)操作。

8取樣

用于這些試驗(yàn)的絕緣液體取樣應(yīng)搜IEC 60475的規(guī)定進(jìn)行。樣品應(yīng)在原先的容器內(nèi)儲(chǔ)存及運(yùn)輸,而且應(yīng)避光。

9樣品制備

除非被試液體的規(guī)范中另有規(guī)定,否則無(wú)需進(jìn)行過(guò)濾、干燥等處理。

當(dāng)需要預(yù)熱試樣時(shí),在倒出足夠的樣品用作其他試驗(yàn)時(shí),應(yīng)盡可能將余下的樣品在原來(lái)的樣品容器里預(yù)熱,此時(shí),應(yīng)考慮液體的熱膨脹而留有足夠的空間,以避免容器破裂。

當(dāng)試樣必須移到其他容器內(nèi)時(shí),這些容器應(yīng)是帶蓋燒杯或帶塞子的錐形玻璃燒瓶,并按第7章要求進(jìn)行清洗。

如果必須在室溫下進(jìn)行試驗(yàn),則應(yīng)將原來(lái)樣晶容器放在將要進(jìn)行試驗(yàn)的室內(nèi),直至樣品達(dá)到室溫。當(dāng)需在高溫下進(jìn)行試驗(yàn)而試樣又不能在試驗(yàn)池內(nèi)加熱時(shí),試樣容器或輔助的容器要用塞子塞住,并保證在此容器內(nèi)有合適的體積足以滿(mǎn)足液體的熱膨脹,在烘箱里把它加熱到高于要求的試驗(yàn)溫度5℃~10℃,

由于液體易氧化,因此加熱時(shí)間應(yīng)不超過(guò)1h。

若必須在一個(gè)單獨(dú)的烘箱內(nèi)加熱液體,為防止污染影響,保證一個(gè)烘箱只用于一種類(lèi)型的液體。

為了取到有代表性的試樣,在取樣之前,應(yīng)將容器傾斜并緩慢地旋轉(zhuǎn)液體幾次,以使試樣均勻。用干凈的無(wú)絨布擦洗容器口,并倒出一部分液體樣品擦洗容器的外表面。

10條件處理及試驗(yàn)池充填試樣

10.1試驗(yàn)池的條件處理

在洗凈并干燥完電極后,注意不要用襟手接觸它們的表面,也應(yīng)注意放置試驗(yàn)池部件的表面要很清潔,試驗(yàn)池上面不要有水燕汽或灰塵，

為了使試驗(yàn)池的清洗程序?qū)﹄S后試驗(yàn)的影響減到最小,很重要的一點(diǎn)是要對(duì)干燥清潔的試驗(yàn)池進(jìn)行預(yù)處理,即用下次的被試液體充滿(mǎn)試驗(yàn)池兩次。對(duì)于高粘度液體,可能需要更長(zhǎng)時(shí)間的預(yù)處理。

10.2試驗(yàn)池充填試樣

用一部分液體試樣刷洗試驗(yàn)池三次,然后倒出并倒掉液體。在劇洗試驗(yàn)池時(shí),若需要取出內(nèi)電極，應(yīng)注意防止在任何表面剩回液體,并防止塵粒聚集在試驗(yàn)池的浸液表面。

重新充滿(mǎn)試樣，注意防止夾帶氣泡。將裝有試樣的試驗(yàn)池加熱到所需試驗(yàn)溫度,每個(gè)試驗(yàn)溫度所需的時(shí)間取決于加熱方法,通?？赡茉?0 min~60 min范圍，在達(dá)到所需試驗(yàn)溫度的士1℃時(shí),10min內(nèi)必須開(kāi)始測(cè)試。

應(yīng)特別注意防止液體或試驗(yàn)池的各部件與任何污染源相接觸。

在一種液體內(nèi)不呈活性的雜質(zhì)可能在另一種液體內(nèi)會(huì)因雜質(zhì)的遷移而呈現(xiàn)活性,因此限制一試驗(yàn)池只用于一種類(lèi)型的液體。

應(yīng)盡可能地保證周?chē)髿庵胁淮嬖谟绊懸后w質(zhì)量的水蒸汽或氣體。

11試驗(yàn)溫度

這些試驗(yàn)方法適合于在一個(gè)很寬的溫度范圍內(nèi)試驗(yàn)絕緣液體,除非在特定液體的規(guī)范中另有規(guī)定，一般試驗(yàn)應(yīng)在90℃下進(jìn)行。

測(cè)量溫度的分辨率應(yīng)在0.25℃以?xún)?nèi)，

12 介質(zhì)損耗因數(shù)(tam?)的測(cè)量

12.1試驗(yàn)電壓

通常采用頻率 40 Hz~62 Hz的正弦電壓。施加交流電壓的大小視被試液體而定,推薦電場(chǎng)強(qiáng)度為0.03 kV/mm~1 kV/mm,

注:通常在上述頻率范圍內(nèi),可用下列公式從一個(gè)顧率的結(jié)果換算成另一個(gè)頗率的對(duì)應(yīng)值:

12.2測(cè)量

試驗(yàn)池非自動(dòng)加熱,當(dāng)其溫度達(dá)到所要求試驗(yàn)溫度的士1℃時(shí),應(yīng)于10min內(nèi)開(kāi)始測(cè)量損耗因數(shù)。在測(cè)量時(shí)施加電壓。完成初次測(cè)量后(如果需要,也包括測(cè)量電容率和電阻車(chē)時(shí)),倒出試驗(yàn)液體。再用第二份試樣充滿(mǎn)試驗(yàn)池,操作程序和次相同,但省去限洗。重復(fù)測(cè)量,兩次測(cè)得的tan8值之差應(yīng)不大于0.0001加兩個(gè)值中較大的25%。

如果不病足上述要求,則繼續(xù)充填試樣測(cè)量,直到相鄰兩次tanò測(cè)量值之差不超過(guò)0.0001加兩個(gè)值中較大的25%為止,此時(shí)認(rèn)為測(cè)量是有效的,12.3報(bào)告

注:只有鑒定tan值較小的產(chǎn)品時(shí)才需要重復(fù)測(cè)量,例行試驗(yàn)不需要重復(fù)測(cè)量。

報(bào)告兩次有效測(cè)量值的平均值作為試樣的損耗因數(shù)(tan8)。

報(bào)告應(yīng)包括:

)電場(chǎng)強(qiáng)度

試驗(yàn)溫度，

3相對(duì)電

13.1測(cè)量

首先測(cè)量以干燥空氣為介質(zhì)的干凈試驗(yàn)池的電容量::然后測(cè)量裝有已知相對(duì)電容率為。的液體的

電容量。按下式電板常數(shù)C.和修正電容

S3d

式中:

C.一-電極常數(shù)

--+-…-------(3)

*-----(4)

C.一-充有已用相對(duì)電容率為c的校電溶液的試驗(yàn)池的電容量;

C,一一以空氣行決介質(zhì)的試驗(yàn)池的電容量，

C修正電

測(cè)量裝有被試流體的試驗(yàn)池的電容量C并按下式計(jì)算相對(duì)電容率

ONVIS

式中:

.一被試液體的相對(duì)中容率，

C.一一被試液體的電容量:

(5)

C.一一以空氣作為介質(zhì)的試驗(yàn)他的電容量;

C一修正電容。

重復(fù)試驗(yàn),直至相鄰兩次測(cè)試值的差不大于較大值的5%,則認(rèn)為測(cè)量是有效的。注1:如果在測(cè)定C。值時(shí)已知C.、C和。值,則可獲得的精度。

注2,當(dāng)用設(shè)計(jì)很好并預(yù)先校正過(guò)的三端試驗(yàn)他時(shí)或當(dāng)精度要求校低時(shí),可以忽略C。項(xiàng),而相對(duì)電容率可按簡(jiǎn)化公

式計(jì)算。

式中，

。一被試液體的相對(duì)電容率。

C一被試液體的電容量:

C一裂空氣作為介質(zhì)的試驗(yàn)鈾的電容量。

13.2 報(bào)告

報(bào)告有效測(cè)量的平均值作為試樣的相對(duì)電容率。

報(bào)告應(yīng)包括:

二)試驗(yàn)池的類(lèi)型及以空氣為介質(zhì)時(shí)的電容量:

b)電場(chǎng)強(qiáng)度;

e)施加電壓的頗率:

d試驗(yàn)溫度。

14直流電阻率的測(cè)量

14.1試驗(yàn)電壓

除非另有規(guī)定,所施加的直流試驗(yàn)電壓應(yīng)使液體承受250V/mm的電場(chǎng)強(qiáng)度。14.2電化時(shí)間

通常適宜的電化時(shí)間是60s±2s。電化時(shí)間的改變可使試驗(yàn)結(jié)果有相當(dāng)大的變化。14.3測(cè)量

如果在該試樣上已測(cè)過(guò)損耗因數(shù),則測(cè)量電阻率之前應(yīng)短接兩電極60s.如果僅測(cè)量電阻率,那么在其溫度達(dá)到所需試驗(yàn)溫度值的士1℃后盡可能快地開(kāi)始測(cè)量,即到溫度不超過(guò) 10min就開(kāi)始測(cè)量。

連接電極到測(cè)量?jī)x器,使試驗(yàn)池的內(nèi)電極接地。將直流電壓加到外電極,在電化時(shí)間達(dá)到終點(diǎn)時(shí)記錄電流和電壓讀數(shù)。

掛1,只要符合其他的一些要求(例知:電場(chǎng)強(qiáng)度為250V/mm),也可用讀取電阻的儀器。

將試驗(yàn)池的兩電極短路5min。倒掉試驗(yàn)池里的液體,從樣品中倒出第二份試樣重復(fù)測(cè)量。用下式計(jì)算電阻率:

式中:

一電阻率,單位為歐姆米(Ω·m);

U一試驗(yàn)電壓讀數(shù),單位為伏特(V):

1--電流讀數(shù),單位為安培(A);

K一一試驗(yàn)池常數(shù),單位為米(m)。

注2:K值按下式計(jì)算:

K-0.113XC,

式中;C.一一以空氣作為介質(zhì)的試驗(yàn)池的電容量:0.113--10-"乘以空氣的介電君數(shù)的例數(shù)。

相鄰兩次讀數(shù)之差不應(yīng)超過(guò)兩值中較高的35%。如果不滿(mǎn)足該要求,則需繼續(xù)充填試樣測(cè)量,直到相鄰兩測(cè)量的電阻率值之差不超過(guò)兩值中較高的35%為止。此時(shí)則認(rèn)為測(cè)量是有效的。注3:對(duì)每一次充瞞的試樣進(jìn)行施加極性相反電壓的第二次測(cè)量,可以觀察到試驗(yàn)他是否干凈和其他現(xiàn)象。必領(lǐng)注意到有些儀器是沒(méi)有這樣的反轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān)的,不要用這樣的儀器,以免得出有誤差的結(jié)果。

也可使用自動(dòng)計(jì)算的直接讀數(shù)的儀器。

14.4報(bào)告

報(bào)告有效測(cè)量結(jié)果的平均值作為樣品的電阻率。

報(bào)告應(yīng)包括:

a)電場(chǎng)強(qiáng)度;

b)電化時(shí)間:

c)試驗(yàn)度。

附錄A

(資料性附錄)

清洗試驗(yàn)池的另一程序舉例一超聲波程序法

拆卸試驗(yàn)池，

用兩份溶劑(見(jiàn)第6章)清洗所有部件。

將所有的試驗(yàn)池部件,包括玻璃和橡皮“O"型環(huán),浸在合適的超聲波清潔浴內(nèi)的溶劑中清潔10min.

將所有部件從浴中取出,用清潔的溶劑清洗。

允許溶劑在無(wú)灰塵的環(huán)境中自然蒸發(fā),為保證蒸發(fā),可將試驗(yàn)池部件放置在已加熱到105℃~110℃的烘箱中干燥且不超過(guò)120min,

重新裝配試驗(yàn)池時(shí),確保不用裸手接觸到任何將要浸液體的表面。

附錄B

(資料性附錄)

試驗(yàn)池的簡(jiǎn)易清洗程序舉例

盡可能拆卸試驗(yàn)池。

首先用丙酮,然后用熱自來(lái)水沖洗所有部件,接著再用蒸餾水清洗幾次。將試驗(yàn)池部件放置在已加熱到105℃~110℃的烘箱內(nèi)充分干燥,因某些材料可能老化,干燥時(shí)間

用兩份溶劑(見(jiàn)第6章)清洗所有部件，

不應(yīng)超過(guò)120min.

干燥時(shí)間取決于試驗(yàn)池的結(jié)構(gòu),通常干燥時(shí)間在50 min~120 min足以除去任何水份。