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繞線元件安規(guī)掃描測(cè)試器

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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
品牌
型號(hào)A190702 40kV 高壓探棒
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2025/12/5 9:30:30
訪問(wèn)次數(shù)82

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司是在蘇州工業(yè)投資創(chuàng)業(yè)園注冊(cè)的具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)企業(yè)，同時(shí)是蘇州清華企業(yè)家商會(huì)會(huì)員.

★測(cè)試儀器部:目前已經(jīng)成為中國(guó)儀器儀表行業(yè)中*具有綜合實(shí)力的產(chǎn)品經(jīng)銷商、系統(tǒng)集成商和綜合服務(wù)商之一。公司通過(guò)與分銷伙伴的緊密合作，致力于為客戶提供專業(yè)、方便、快捷的本地化服務(wù)。公司的客戶涉及工業(yè)電子制造、文教科研、通信以及信息技術(shù)、微電子、生物制藥等多個(gè)領(lǐng)域，通過(guò)與Agilent、Fluke、Tektronix、、KIKUSUI、等廠商的合作，為客戶提供測(cè)試測(cè)量技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品配套、系統(tǒng)集成、維修、租賃、第三方檢測(cè)服務(wù)等。歡迎各位與之合作，希望我們共創(chuàng)錦繡的明天！

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電機(jī)檢測(cè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

支援16通道掃描測(cè)試高速接觸檢查 (HSCC)次測(cè)項(xiàng)功能OSC開短路偵測(cè)GFI人體保護(hù)電路Flashover偵測(cè)面板鎖定功能標(biāo)準(zhǔn)RS232介面可選購(gòu)GPIB&HANDLER介面CE認(rèn)證

繞線元件安規(guī)掃描測(cè)試器產(chǎn)品信息

產(chǎn)品特色

支援16通道掃描測(cè)試
高速接觸檢查 (HSCC)
次測(cè)項(xiàng)功能
OSC開短路偵測(cè)
GFI人體保護(hù)電路
Flashover偵測(cè)
面板鎖定功能
標(biāo)準(zhǔn)RS232介面
可選購(gòu)GPIB&HANDLER介面
CE認(rèn)證

主要功能

5kVac & 6kVdc耐壓測(cè)試
1MΩ~50GΩ /5kV絕緣阻抗測(cè)試
10mΩ~500kΩ直流電阻測(cè)試
8通道掃描輸出

繞線元件的品質(zhì)驗(yàn)證測(cè)試項(xiàng)目包含了AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕緣電阻測(cè)試。Chroma 19035繞線元件電氣安規(guī)掃描測(cè)試器針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓繞線元件廠商在品質(zhì)驗(yàn)證測(cè)試時(shí)，不但擁有可靠的品質(zhì)，能更有效率的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19035擁有5kVac/6kVdc高壓輸出，符合繞線元件之耐壓測(cè)試需求，*大輸出電流可達(dá)30mA。IR絕緣電阻測(cè)試可量測(cè)范圍為1MΩ到50GΩ，電壓輸出可達(dá)5kV。DCR直流電阻量測(cè)除了可量測(cè)繞線元件之基本規(guī)格，也可做為安規(guī)耐壓測(cè)試之前連接(接觸)檢查。

19035具有Flashover (電氣閃絡(luò))、OSC (開短路偵測(cè)) 等*附加功能，以及可程式電壓值、時(shí)間參數(shù)等，針對(duì)不同的待測(cè)物特性，防止**品輕易通過(guò)品質(zhì)驗(yàn)證，提升測(cè)試本身的信賴度及產(chǎn)品品質(zhì)。

19035為針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線元件測(cè)試需求，所設(shè)計(jì)的綜合安規(guī)測(cè)試器。大多數(shù)繞線元件具有多組繞組，如三相馬達(dá)、雙繞組變壓器等，利用19035八通道掃描，無(wú)需手動(dòng)切換測(cè)試點(diǎn)，達(dá)成多點(diǎn)一次測(cè)試完成，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。

19035提供OSC及DCR功能，檢驗(yàn)測(cè)試過(guò)程中是否接觸**或有待測(cè)物短路的現(xiàn)象，解決馬達(dá)、變壓器等繞線元件測(cè)試時(shí)所發(fā)生的接觸問(wèn)題，提升測(cè)試品質(zhì)及延長(zhǎng)測(cè)試設(shè)備的壽命。