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X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱埃登威自動化系統(tǒng)設備(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2025/11/19 9:14:01
  • 訪問次數107
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埃登威自動化系統(tǒng)設備(上海)有限公司是一家專為氣體分析提供完備解決方案的供應商,是意大利ADEV在華代表處,ADEV是石化化工行業(yè)的氣體分析系統(tǒng)的領D者,產品同時廣泛應用在冶金,食品,制藥,鋼鐵,電子,氣體制造,航空航天等行業(yè)。多年的分析儀器的研發(fā)、生產及氣體分析系統(tǒng)的設計和安裝經驗,使得埃登威自動化系統(tǒng)設備(上海)有限公司成為Z為可靠的、**革新精神的氣體分析解決方案的領X品牌!我們的使命創(chuàng)建并*市場, 高品質和易于操作為工業(yè)用戶提供儀器儀表和軟件解決方案等相關服務提高能源利用率保障安全生產確證產品質量的同時將利潤大化 埃登威以客戶滿意和社會責任為己任我們的客戶我們的客戶包括亞洲、歐洲和美國的一些頂J公司,與這些客戶的合作關系使我們占據了有利地位,激勵我們在現(xiàn)在和將來持續(xù)進行技術創(chuàng)X。正是我們優(yōu)X的客戶使得我們變得更高更強!在我們的客戶包括了法國液化空氣公司,林德氣體公司,寶鋼氣體公司,百威啤酒公司等知M企業(yè)。上游供應商則囊括了意大利ADEV,瑞士ABB,美國GE等知M企業(yè)。我們的員工我們的員工團隊由接受過高水平培訓的專業(yè)人士組成。他們熱愛自己的工作,熱衷于富有挑戰(zhàn)性的任務和機遇,并且具有客戶至上的態(tài)度、理念和愿望。簡言之,我們的人員因客戶滿意而獲得成長!我們把客戶的問題當成是我們自己的問題。通向成功的伙伴關系只有真正理解我們所從事的業(yè)務,才能走向成功。埃登威系統(tǒng)公司始終專注于客戶及其特定需求。埃登威系統(tǒng)公司的技術顧問和開發(fā)工程師們一直在研究、開發(fā)氣體測量的新技術,可為我們的客戶提供有前瞻性的、經得起時間考驗的解決方案。埃登威自動化系統(tǒng)設備(上海)有限公司在近年獲得了快速成長,在未來我們將繼續(xù)我們的平臺戰(zhàn)略,讓儀表技術在暢行無阻,與我們的用戶一道成為更好的自己。
發(fā)酵罐
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 產品信息
埃登威自動化-專業(yè)進口儀器供應商!我們提供豐富的儀器儀表種類、有競爭力的產品價格及良好的售后服務。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。


德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品簡介:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經常校準儀器,比例接收器能實現(xiàn)高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。


德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品應用:

測量大規(guī)模生產的電鍍部件

測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

測量印刷線路板

分析電鍍溶液



我們會努力按照原廠技術參數翻譯編輯,如技術參數中英文有差異,以英文參數為準。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀技術參數:

通用規(guī)格

設計用途

能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXPF),

用于測定超薄鍍層和溶液分析。

元素范圍

從元素氯(17)到鈾(92)

配有可選的WinFTM®BASIC軟件時,多時可同時測定24種元素

設計理念

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

由上往下

X射線源

X射線管

帶鈹窗口的鎢管

高壓

三檔:30KV,40KV,50KV

孔徑(準直器)

φ0.3mm 可選:φ0.1mm;φ0.2mm;長方形0.3mm x 0.05mm

測量點尺寸

取決于測量距離及使用的準直器大小

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

較小的測量點大小約φ0.2mm

X射線探測

X射線接收器

比例接收器

測量距離

0~80mm,使用專有保護的DCM測量距離補償法

樣品定位

視頻系統(tǒng)

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控

十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)

可調節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于準確定位樣品

放大倍數

40x~160x

電器參數

電源要求

200V,50Hz

功率

很大120W(不包括計算機)

保護等級

IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸

寬x深x高(mm):570x760x650

內部測量室尺寸

寬x深x高(mm):460x495x(參考“樣品較大高度”部分的說明)

重量

107KG

環(huán)境要求

使用時溫度

10℃~40℃

存儲或運輸時溫度

0℃~50℃

空氣相對濕度

≤95% 無結露

工作臺

設計

手動X/Y平臺

X/Y平臺較大移動范圍

92x150mm

可用樣品放置區(qū)域

420x450mm

Z軸

馬達驅動

Z軸移動范圍

140mm

樣品很大重量

20KG

樣品很大高度

140mm

激光(1級)定位點

計算單元

計算機

帶擴展卡的Windows®計算機系統(tǒng)

軟件

標準:WinFTM®V.6 LIGHT

可選:WinFTM®V.6 BASIC,PDM,SUPER

執(zhí)行標準

CE合格標準

EN 61010

型式許可

作為受保護的儀器

型式許可符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法規(guī)的規(guī)定


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