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產(chǎn)品簡介
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儀器照片 |
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| 儀器名稱 | TriStar II 3020全自動比表面積和孔隙度分析儀 |
| 儀器型號 | 麥克TriStar II 3020 |
| 生產(chǎn)廠家 | 美國麥克默瑞提克儀器有限公司 |
| 儀器簡介 | TriStar Ⅱ 3020可同時進行三個樣品的分析,提供全吸附、脫附曲線、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、t-plot數(shù)據(jù)處理。 |
| 技術參數(shù) | 1、比表面測量范圍為氮氣吸附0.01m2/g至無上限,氪氣吸附0.0001m2/g至無上限; 2、孔徑分析范圍:3.5埃~5000埃; 3、真正的三站同時測量。每個分析站均有獨立的高精度壓力傳感器。 |
| 儀器特點 | 1、單點、多點BET比表面積 2、Langmuir比表面積 3、BJH中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積 4、平均孔尺寸和單點總孔體積 5、中孔和大孔體積、面積對孔徑分布 6、summary report總結報告 |
| 檢測案例 (介孔材料吸附等溫線) | |
| 檢測案例 (介孔樣品孔徑分布曲線) | |
| 樣品務必干燥;寄樣質(zhì)量大于0.3g;對材料比表面積有大致了解 |
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移動站:介孔BET 3020
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