HS2048是一款微型光纖光譜儀，設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)小巧，光譜范圍可配置；分辨率高，~ 0.07 nm；雜散光低，小于0.1%；溫度漂移小，波長溫漂~0.1pixel/℃。\n適用于激光測(cè)量、等離子體發(fā)射光譜測(cè)量、顏色測(cè)量、吸光度測(cè)量和拉曼測(cè)量等多個(gè)工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，是一款高性價(jià)的工業(yè)級(jí)光纖光譜儀。

HS2048是一款微型光纖光譜儀，設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)小巧，光譜范圍可配置；分辨率高，~ 0.07 nm；雜散光低，小于0.1%；溫度漂移小，波長溫漂~0.1pixel/℃。

適用于激光測(cè)量、等離子體發(fā)射光譜測(cè)量、顏色測(cè)量、吸光度測(cè)量和拉曼測(cè)量等多個(gè)工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，是一款高性價(jià)的工業(yè)級(jí)光纖光譜儀。

◆ 低雜散光：使用優(yōu)質(zhì)光學(xué)元器件，特殊消光設(shè)計(jì)和工藝，優(yōu)化光路設(shè)計(jì)，能夠有效減少雜散光干擾，雜散光可低至 0.1% 以下，顯著提高光譜純度和檢測(cè)精度；◆ 高分辨率：采用傳統(tǒng)長焦 CT 光路，通過精密光學(xué)設(shè)計(jì)和高性能光柵，顯著提高設(shè)備的光學(xué)分辨率,可達(dá)0.07 nm；◆波長溫漂~0.1pixel/℃；◆ 優(yōu)異的紫外響應(yīng)能力：配備紫外高靈敏檢測(cè)器，能夠提供低噪聲、高信噪比的準(zhǔn)確光譜信號(hào)，適用于高精度分析；◆ 可適配如海帶銷多芯密排集束光纖，光纖插拔強(qiáng)度一致性≦7%；◆ CCD量化背景噪聲≦30RMS（最短積分時(shí)間）；◆ 配置USB、串口多種通訊接口，配置24PIN交互接口，配置專有DAC和ADC，可實(shí)現(xiàn)配套光源的使能、強(qiáng)度控制和功率反饋。

產(chǎn)品配置

* 光譜實(shí)際分辨率不高于標(biāo)值的 120%

* 光譜儀可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)

光譜儀測(cè)激光器線寬

激光器線寬是描述激光器性能的重要參數(shù)，是指激光器輸出的激光頻率的寬度。線寬越窄，激光的單色性越好，頻率穩(wěn)定性越高。我們可以使用光譜儀來測(cè)量激光器的線寬，適用于激光器生產(chǎn)廠家、科研場(chǎng)所等。

激光波長測(cè)量圖譜

半導(dǎo)體刻蝕終點(diǎn)判斷

光譜儀在半導(dǎo)體刻蝕工藝中用于終點(diǎn)判斷，通過實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)等離子體刻蝕過程中產(chǎn)生 的光譜信號(hào)變化，識(shí)別不同材料層的特征輻射峰。當(dāng)光譜信號(hào)中的特征峰強(qiáng)度或位置發(fā)生預(yù)定變化時(shí)，系統(tǒng)判定刻蝕達(dá)到終點(diǎn)。這種方法具備高精度、實(shí)時(shí)性和非接觸性。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造中的多層結(jié)構(gòu)刻蝕控制。

再結(jié)晶鎢在氣體為 He、0.1 Pa、700W、250V 條件下鎢粒子的發(fā)射光譜

膜厚測(cè)量

基于光的干涉原理，當(dāng)光照射到薄膜上時(shí)，部分光會(huì)在膜的上下界面發(fā)生反射和透射，形成干涉條紋。通過測(cè)量薄膜在不同波長下的反射或透射光譜，分析干涉條紋的頻率和幅度變化，可以計(jì)算出薄膜的厚度。

膜厚測(cè)量

火焰光譜檢測(cè)

在紫外 - 可見 - 近紅外內(nèi)實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)探測(cè)，可獲取火焰在特定平面的相對(duì)光強(qiáng)和光譜分布。

火焰光譜檢測(cè)