傳統(tǒng)測(cè)量樣品透/反射率的光纖探頭光斑直徑最小僅能達(dá)到1-2mm左右，光斑直徑限制了樣品的大小以及光譜空間分辨率，而若要獲得樣品更微小的尺度的光譜信息，通常的做法是與顯微系統(tǒng)連用。微區(qū)透反射光譜測(cè)量系統(tǒng)即是將光譜分析技術(shù)與顯微光路結(jié)合，最小采樣可在微米級(jí)尺度上采集樣品的光譜信息，廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物等行業(yè)材料光譜性能研究。\n本系統(tǒng)采用光纖共焦照明方式，與傳統(tǒng)的科勒式照明相比，共焦照明方式可獲......

傳統(tǒng)測(cè)量樣品透/反射率的光纖探頭光斑直徑最小僅能達(dá)到1-2mm左右，光斑直徑限制了樣品的大小以及光譜空間分辨率，而若要獲得樣品更微小的尺度的光譜信息，通常的做法是與顯微系統(tǒng)連用。微區(qū)透反射光譜測(cè)量系統(tǒng)即是將光譜分析技術(shù)與顯微光路結(jié)合，最小采樣可在微米級(jí)尺度上采集樣品的光譜信息，廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物等行業(yè)材料光譜性能研究。

本系統(tǒng)采用光纖共焦照明方式，與傳統(tǒng)的科勒式照明相比，共焦照明方式可獲得更小的采樣直徑，即具有更高的空間光譜分辨率。

◆ 模塊設(shè)計(jì)：通過在顯微鏡中加裝拓展模塊實(shí)現(xiàn)光譜測(cè)量，同時(shí)可在客戶現(xiàn)有顯微鏡基礎(chǔ)上定制相應(yīng)檢測(cè)模塊。◆ 共焦設(shè)計(jì)：光源光路與光譜儀接收光路共軸，獨(dú)特的共焦設(shè)計(jì)使得測(cè)量“所見即所得”，并且系統(tǒng)的雜散光可以得到有效抑制?！?寬光譜檢測(cè)范圍：搭配如海光電的光纖光譜儀，可實(shí)現(xiàn)350~1700nm寬光譜測(cè)量?！?靈活選配與升級(jí)：該系統(tǒng)除可實(shí)現(xiàn)透反射測(cè)量外，同時(shí)可根據(jù)客戶需求在此基礎(chǔ)上添加特定測(cè)量模塊從而實(shí)現(xiàn)透反射+拉曼+熒光多光譜測(cè)量?！?高精度測(cè)量：自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)最小步進(jìn)1μm，可實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域光譜掃描測(cè)量。

* 光譜儀可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)

材料科學(xué)

該系統(tǒng)通過高空間分辨率的光譜數(shù)據(jù)采集，可對(duì)微米甚至納米級(jí)別的樣品進(jìn)行細(xì)致分析。能夠?qū)Σ牧系幕瘜W(xué)成分、分子結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)以及薄膜厚度等進(jìn)行高精度的分析。

適用于研究和開發(fā)新型材料、薄膜技術(shù)、光電器件，以及鍍膜鏡片等各種光學(xué)元件及光學(xué)材料的透反射率的研究。

SPF705濾光片透射率光譜

Mapping掃描

微區(qū)透反射系統(tǒng)mapping掃描是一種高精度的分析技術(shù)，通過顯微系統(tǒng)將光源聚焦到樣品的微小區(qū)域，然后收集該區(qū)域的透反射光譜信息。通過在樣品表面上逐點(diǎn)掃描，可以生成整個(gè)樣品區(qū)域的光譜圖，從而得到樣品的二維或三維光譜分布信息，能夠在微觀尺度上對(duì)樣品的透射和反射特性進(jìn)行測(cè)量。這種技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)分析、生物醫(yī)學(xué)、法醫(yī)鑒定和環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。

最小采樣光斑